Probenvorbereitungssysteme für SEM

... Dieses Gerät dient der Vorbereitung des gewünschten Waferteils für die Analyse mit STEM, TEM usw. durch Extraktion einer Mikroprobe mit einem Ionenstrahl in der Vakuumkammer eines FIB-Systems. FIB-Mikroprobenentnahmegerät und FIB-Mikroprobenentnahmeverfahren Ein ...

... funktionieren. Der MC1000 Ion Sputter Coater ist ein Probenvorbereitungsgerät für die Verwendung mit einem Rasterelektronenmikroskop (SEM). Der MC1000 ist für die Abscheidung einer dünnen Metallschicht, z. B. aus Platin ...

... Der ZONESEMⅡ Tabletop Sample Cleaner verwendet eine UV-basierte Reinigungstechnologie zur Minimierung oder Beseitigung von Kohlenwasserstoffverunreinigungen für elektronenmikroskopische Aufnahmen. Bei der Vorbereitung, Handhabung oder ...

... Querschnittsfräsens ändert, ändern sich auch die entsprechende Bearbeitungsbreite und -tiefe. Die Abbildung unten zeigt die SEM-Bilder eines Si-Wafers nach dem Querschnittsfräsen. Die Bearbeitungsbedingungen sind dieselben ...

... Das fortschrittlichste System mit breitem Ionenstrahl zur Herstellung von Querschnitts- oder Flachfräsproben für die Elektronenmikroskopie in außergewöhnlich hoher Qualität. Das ArBlade 5000 ist mit einer schnell fräsenden Ar-Ionenkanone ...

... Der innovative ZONETEM II Desktop Sample Cleaner verwendet eine UV-basierte Reinigungstechnologie zur Minimierung oder Beseitigung von Kohlenwasserstoffverunreinigungen für die elektronenmikroskopische Bildgebung. ZONE bietet eine einfach ...

Amorph gefrorene Strukturen sind extrem empfindlich gegenüber Umgebungseinflüssen und müssen vor der Bildung von Artefakten geschützt werden. - Bereiten Sie Ihre Proben für die detaillierte Auswertung unter optimalen Bedingungen vor: - ...

Probentransfer mit dem Leica EM VCT500 unter kryogenetischen Konditionen oder bei Raumtemperatur und unter Vakuum- oder Sicherheitsatmosphäre.

Die Leica EM TXP ist ein einzigartiges Instrument für die Probenvorbereitung, das speziell für das Fräsen, Sägen, Schleifen und Polieren von Proben vor einer Untersuchung mittels REM (Rasterelektronen- mikroskop), TEM (Transmissionselektronenmikroskop) ...

Die aktualisierte Version des EM TIC 3X kombiniert – getreu unserem Motto ‘mit dem Anwender, für den Anwender’ – Leistung und Flexibilität in praxisrelevanter Weise. Die verdoppelte Ätzrate des neuesten EM TIC 3X lässt sich mit fünf ...

Die Leica EM TRIM2 ist ein Hochgeschwindigkeits-Frässystem mit integriertem Stereomikroskop und LED-Ringlicht für das Trimmen biologischer und industrieller Proben vor der Ultramikrotomie. Die Leica EM TRIM2 verfügt über eine 1-µm-Vorschubsteuerung ...

Mit dem ARTOS 3D Ultramikrotom erzeugen Sie in kürzerer Zeit einheitliche, ultradünne serielle Schnitte für die Array-Tomographie. Das ARTOS 3D (ARray TOmography Solution) erzeugt automatisch Schnittbänder mit Hunderten serieller Schnitte ...

Innerhalb weniger Minuten können Sie Ihr Ultramikrotom Leica EM UC7 oder Leica EM UC6 durch das Aufsetzten der Kryokammer Leica EM FC7 in ein Kryoultramikrotom verwandeln.

Das Herstellen von homogenen sowie leitfähigen Metall- oder Kohlebeschichtungen für die REM und TEM Analyse war noch nie so komfortabel wie mit dem Leica EM ACE200 Beschichtungssystem. Das vollautomatische System ist für Sputtern oder ...

Die richtige Wahl für die höchstauflösende TEM und FE-REM-Analyse Das Leica EM ACE600 ist DAS perfekte vielseitige Hochvakuum-Beschichtungssystem, mit dem extrem dünne, feinkörnige Metallfilme und elektrisch leitfähige Kohlenstoffbeschichtungen ...