Automatisches Probenvorbereitungssystem EM TXP

für SEM

Die Leica EM TXP ist ein einzigartiges Instrument für die Probenvorbereitung, das speziell für das Fräsen, Sägen, Schleifen und Polieren von Proben vor einer Untersuchung mittels REM (Rasterelektronen- mikroskop), TEM (Transmissionselektronenmikroskop) oder LM (Lichtmikroskop) entwickelt wurde. Dank eines integrierten Stereomikroskopes können selbst schwer erkennbare Ziele präzise lokalisiert und problemlos präpariert werden. Mit dem Probenschwenkarm kann die Probe direkt in einem Winkel zwischen 0° und 60° bzw. 90° - bezogen auf die Vorderseite - betrachtet werden, und die Entfernung kann mit Hilfe der Okularstrichplatte bestimmt werden.