- Metrologie - Labor >
- Physiko-chemische Analytik >
- Mehrfach-Spektrometer
Mehrfach-Spektrometer
Erreichen Sie das ganze Jahr über neue Kunden an einem einzigen Ort
Aussteller werden{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Konsistenz Ihrer Polymerleistung und Verbrauchersicherheit. Das Epsilon 4, ein energiedispersives Röntgenfluoreszenz-Tisch- Spektrometer (EDRFA), bietet Elementaranalysen mit überlegener Wiederholbarkeit und Genauigkeit und erfüllt so ...
... Übersicht
Das Shimadzu GCMS-QP2020 NX ist ein Gaschromatograph‑Massenspektrometer (GC‑MS) mit einfachem Quadrupol, das hohe Empfindlichkeit und betriebliche Effizienz für Routine‑ und anspruchsvolle Laboranalysen bietet. Die Kombination aus ...
Wellenlänge: 167 nm - 800 nm
Aufgrund ihrer hohen Nachweisempfindlichkeit bis in den ppb-Bereich, der Fähigkeit zur Analyse eines breiten 5- bis 6-stelligen Konzentrationsbereichs und der Fähigkeit zur gleichzeitigen Messung mehrerer Elemente werden ICP-Emissionsspektrometer in einem ...
... Umwelt: Messung von Neben- oder Spurenelementen in Trinkwasser, Meerwasser, Oberflächenwasser und festen Abfällen. Lebensmittelsicherheit: Analyse von Schwermetallen und Spurenelementen in Lebensmitteln; Halbleiter: Ultraspurenverunreinigungen in reinem ...
... überschreitet. Eine einzige Belichtung reicht für eine vollständige Spektralanalyse aus, wodurch die Notwendigkeit einer mehrfachen Belichtungsoptimierung entfällt, was zu hervorragenden Nachweisgrenzen und einem linearen Dynamikbereich ...
... Ein System zur Überwachung mehrerer Quellen bei MBE-Beschichtungsanwendungen Molekularstrahlquellen erfordern eine genaue Kontrolle für ein reproduzierbares Dünnschichtwachstum in Produktionsqualität. Das XBS-System (Cross Beam Source) von Hiden ermöglicht ...
Erreichen Sie das ganze Jahr über neue Kunden an einem einzigen Ort
Aussteller werdendie besten Anbieter für Sie aus
Abonnieren Sie unseren Newsletter
Erhalten Sie alle zwei Wochen Neuigkeiten aus dieser Rubrik.
Bitte lesen Sie unsere Datenschutzbestimmungen, um zu erfahren, wie DirectIndustry mit Ihren personenbezogenen Daten umgeht.
- Liste der Marken
- Herstellerkonto
- Käuferkonto
- Unsere Dienstleistungen
- Newsletter abonnieren
- Über die VirtualExpo Group