MCA-Testsysteme

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Schockspannungs-Testsystem
Schockspannungs-Testsystem
AST5/W

... Übersicht
Die AST-Familie umfasst automatische Prüfsysteme für die Produktionsprüfung von Statoren, Spulen und Wicklungen elektrischer Maschinen. Die Plattform AST5/W ist für Flexibilität und kundenspezifische Anpassung ausgelegt und deckt Leistungen ...

Labor-Testsystem
Labor-Testsystem
DMT EVO

... Übersicht
DMT EVO ist ein kompaktes Mixed‑Signal‑ und Digital‑Automatiktestsystem (ATE) zur effizienten Charakterisierung und Validierung von ICs in F&E, Labor, Vorserien‑ und Post‑Produktionsphasen. Das modulare Mainframe bietet bis zu 5 Steckplätze ...

Impedanz-Testsystem
Impedanz-Testsystem
FTI-1000 Wafer HV

Produktübersicht Das FTI‑1000 Wafer HV ist ein Wafer‑Level ATE‑System für hochabdeckende Tests von Leistungshalbleitern und Wide‑Bandgap‑Technologien. Die Wafer HV‑Variante bietet Hochspannungs‑DC‑ und AC‑Quellen und ist für Single‑Site‑Probe‑Anwendungen ...

Alterungstestsystem
Alterungstestsystem
Hatina WLBI

... Produktübersicht
Das Hatina WLBI ist eine Wafer-Level Burn-In (WLBI) und HTOL-Lösung, entwickelt für Leistungshalbleiter auf Wafern. Die kompakte Testkammer (Nutzfläche nominal 560×560×550 mm; Datenblatt D×W×H 560×560×560 mm) wird an Standard-Wafer-Prober ...

elektrisches Testsystem
elektrisches Testsystem

... Beschreibung

  • Widerstandsmessung
  • Durchgangsprüfung
  • Isolationsmessung
  • Hochspannungsprüfung
  • Frei konfigurierbar für bis zu 40 Einzeladern
  • Prüfplatz elektrisch höhenverstellbar
  • Sicherheit durch
...

Labor-Testsystem
Labor-Testsystem

... Branche
Elektroinstallation

Beschreibung
Das Prüfsystem führt elektrische Prüfungen in einer Klimakammer durch, um Prüflinge unterschiedlichen, konfigurierbaren Temperatur- und Luftfeuchteprofilen auszusetzen. Die Anlage verfügt ...

Testsystem für die Elektronik
Testsystem für die Elektronik
STS8200

... Analog-IC-Tester-STS8200 Systemmerkmal: - Bis zu 26 Steckplätze im Mainframe - Fokus auf Analog-, Linear-, PMIC- und Power-IC - Volle potentialfreie V/I-Quelle mit 16-Bit-Digitalisierer pro Pin und AWG - Hochspannungs-V/I-Quelle, und Hochleistungs-V/I-Quelle ...

Die anderen Produkte ansehen
Beijing Huafeng Test & Control Technology Co., Ltd.
Testsystem / beschleunigte Alterung
Testsystem / beschleunigte Alterung
LDBI

... Erwärmung von Chips und so weiter. Es ist eine Reihe von universellen, hohe Leistung, zirkulierende Wasserkühlung Alterung Testsystem. Das Produkt hat gute Konstantstromeigenschaften von großem Strom und schmalem Puls, stabilen Strom, ...

Testsystem für integrierte Schaltungen
Testsystem für integrierte Schaltungen
BAT-NEDQ-04-V010

Dieses Gerät wurde entwickelt, um die grundlegenden und schützenden Eigenschaften von Single-Bus-Li-Ionen-Batterieschutzplatinen für 1s- und 2s-Batterien schnell zu bewerten, die ICs der US-TI-Serie verwenden (z. B. BQ27742, BQ277410, BQ28z610, BQ27541, ...

Labor-Testsystem
Labor-Testsystem
IP750Ex-HD

... Bildsensoren für aktuelle und zukünftige Geräte und gewährleistet dabei die niedrigsten Testkosten. - Fortschrittliches Testsystem für Bildsensoren, das sowohl für aktuelle als auch für zukünftige Geräte entwickelt wurde. - Optimiert ...

elektrisches Testsystem
elektrisches Testsystem
MP5000

... Produktübersicht
Das modulare Präzisionsprüfsystem MP5000 von Tektronix ist von Haus aus erweiterbar. Nehmen Sie heute SMU- und PSU-Module und erweitern Sie das System später. Hohe Kanaldichte und schneller Modulwechsel minimieren Ausfallzeiten ...

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