UV-Vis-NIR-Spektralphotometer V-780 UV-Vis/NIR
ZweistrahlKugelTransmission

UV-Vis-NIR-Spektralphotometer
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Eigenschaften

Strahlung
UV-Vis-NIR
Optische Gestaltung
Zweistrahl
Messmodus
Kugel, Transmission, Reflexion
Weitere Eigenschaften
Benchtop
Anwendungstechnik
für Feststoffe
Wellenlänge

Max: 1.600 nm

Min: 190 nm

Beschreibung

Außergewöhnliche Empfindlichkeit und Entschließung in NIR mit hohe Leistungsfähigkeit InGaAs Detektor in der Strecke 190 bis 1600 Nanometer. Lichtquellehelligkeitsteuerung unter Verwendung des digitalen Rückgespräches ermöglicht NIR Spektrummaß mit hoher Empfindlichkeit und hoher Genauigkeit sogar mit breiter Veränderung der Absorption. Komplette Anzeige und Analyse der Leistungsanzeigen, der zusätzlichen Informationen, der Maßparameter und der Maßdaten. Parameter für Datenverarbeitung können von den Followings festgelegt werden: Höchstabfragung, Höchsthöhe/Bereich (Verhältnis), grundlegende quantitative Bestimmung (Benutzerformel) und Schichtstärkenberechnung. Quantitatives Maß und Örtlich festgelegt-Wellenlänge Maß: arithmetische Formeln können in die Parametereinstellungen eingegeben werden. Quantitatives Maß, Spektrum-Maß und Örtlich festgelegt-Wellenlänge Maß: der Beispielname und -anmerkungen können im Maßauftrag als Reihenfolge zusammen gespeichert werden.

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.