Das PHE101 ist das späteste getrennte Wellenlänge ellipsometer mit vielen neuen Eigenschaften, wie Materialbibliothek, breitestem variablem Winkel, einem zweiten Laser für Ausrichtung und sehr leistungsfähiger Software, die das Instrument höchste Genauigkeit und Wiederholung bildet.
* Ausgezeichnete Genauigkeit und Wiederholung
* Schneller drehender Analysatorbetrieb.
* Leistungsfähige ...
PHE101M ist Multiwellenlänge ellipsometer. Kunde kann verschiedene Wellenlängen von der UV-, KRAFT- oder NIR-Strecke (bis 5 Wellenlängen) vorwählen. Das PHE101M hat alle Eigenschaften, die PHE101 hat.
* Fünf maximale ausgedehnte Wellenlängen
* Selbständerungswellenlänge für einfachen Betrieb
* Ausgezeichnete Präzision und Wiederholung
* Schneller drehender Analysatorbetrieb
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* Sehr schnelles Maß in der UV/VIS Strecke 250 - 1100 Nanometer mit Diodenreihendetektor oder Bewegungsspektrometer (Monochromator)
* Wahlweise freigestellte Ausdehnung der Spektralstrecke in das NIR (700 - 1700 Nanometer) oder (700 - 2100 Nanometer)
* Wahlweise freigestellte Ausdehnung der UV-VIS Strecke (190 - 1100 Nanometer)
* Drehender Polarisator liefert genaues Maß ...
Der folgende Schritt Vorwärts in der Belichtung Ellipsometry mit dem nanofilm_ep3sw.
Die einzelne Wellenlänge nanofilm_ep3sw.is ein leistungsfähiges System zum zu erhalten begann mit Belichtung Ellipsometry.
Belichtung erlaubt Ihnen, eine direkte Ansicht über die Probe zu haben!
Sie sehen ein direktes Bild Ihrer Probe von der CCD-Kamera.
Dieses Bild stellt bereits ...
Der folgende Schritt Vorwärts in der Belichtung Ellipsometry mit dem EP ³ - Se
Das EP ³ - Se ist die einzige handelsübliche Belichtung spektralanalytisches Ellipsometer und bietet grössere Flexibilität für Maße mit Belichtung Ellipsometry an.
Das EP ³ - Se gewährt:
* Analyse mit höchster Genauigkeit und Präzision
* Analyse der mehrschichtigen/multi Parametersysteme
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Terahertz Zeitgebiet Spektroskopie (THz-TDS) ist eine spektralanalytische Technik und prüft die Eigenschaften eines Materials mit kurzen Impulsen der terahertz Strahlung. Der Erzeugung und Abfragung Entwurf ist für den Effekt des Beispielmaterials auf den Umfang und die Phase der terahertz Strahlung empfindlich. In dieser Hinsicht kann die Technik mehr Informationen als herkömmliche Fourier-Transformation ...
PHE101M ist Multiwellenlänge ellipsometer. Kunde kann verschiedene Wellenlängen von der UV-, KRAFT- oder NIR-Strecke (bis 5 Wellenlängen) vorwählen. Das PHE101M hat alle Eigenschaften, die PHE101 hat.
Das PHE101M ist ein ideales getrenntes Wellenlänge ellipsometer, das für das Messen des Brechungskoeffizienten und der Stärke der einzelnen und mehrschichtigen Filme an einigen Wellenlängen ...
PHE 102 spektralanalytisches Ellipsometer
Eigenschaften
* Sehr schnelles Maß in der UV/VIS Strecke 250 - 1100 Nanometer mit Diodenreihendetektor oder Bewegungsspektrometer (Monochromator)
* Wahlweise freigestellte Ausdehnung der Spektralstrecke in das NIR (700 - 1700 Nanometer) oder (700 - 2100 Nanometer)
* Wahlweise freigestellte Ausdehnung der UV-VIS Strecke (190 ...
Ellipsometer Modulation des flüssigen Kristalles
Stellt klassische ellipsometric Daten und die volle 16 Element Mueller-Matrix zur Verfügung
Erhöhte Anwendungsfähigkeit für die Kennzeichnung der depolarisierenund anisotropen Proben
Modularbauweise
Konkurrenzfähiger Preis
Hohe Präzision R&D spektralanalytisches Ellipsometer
Die UVISEL ellipsometer Strecke bietet die beste Kombination der Modularität und der Leistung für vorgerückte Dünnfilm-, Oberflächen- und Schnittstellenkennzeichnung an.
Gegründet auf Phasenmodulationstechnologie, liefert das UVISEL ellipsometer einen leistungsfähigen optischen Entwurf, um die Spektralstrecke von 145 bis 2100 Nanometer ...
Ellipsometry is a method for determining the refractive index and extinction coefficients of a sample by measuring the change in polarization state of surface reflected light. Film thickness and optical constants of an adsorption layer or oxide film on a substrate surface can be determined with exceptional sensitivity. Conventional interference spectroscopy utilizes light passed through separate optical ...
Spektralanalytisches ellipsometry ist ein leistungsfähiges Werkzeug für Dünnfilmmetrologie. omt führt diese Methode in einem bedienungsfreundlichen table-top ellipsometer mit einem vorgerückten modularen optischen und mechanischen Entwurf ein.
Für hoch entwickelte Maße stellen wir verschiedene Wahlen wie Wellenlängeverlängerung oder motorisierte Stadien für räumlich entschlossene Maße und ...
Das 439L633P manuelles Ellipsometer ist ein vorgerücktes optisches Instrument.
Es misst die Änderung im Polarisationszustand des einfarbigen Lichtes nach Reflexion von einer Oberfläche.
Diese Maßeinheit ist spezifisch für zerstörungsfreie Maße bestimmt. Sie benutzt Laser, um die Stärke und die optischen Eigenschaften der extrem Dünnfilme zu messen oder Schichten, Material.
Eigenschaften:
- Außerordentliche hohe Stabilität und Genauigkeit wegen der beständigen Licht-quellen, Temperatur stabilisierten Kompensatoreinstellung des Lasers, der Polarisatorspurhaltung und des ultra lärmarmen Detektors
- In hohem Grade exakte Beispielannäherung an optisches Selbsteinstellenteleskop und Mikroskop
- Schnelles und bequemes Maß in einem auswählbaren, ...
