STEINMEYER Positioniersysteme / Kombinierte Module

Wiederholbarkeit: 1 µm
Ladung: 15 kg
Hub: 200 mm - 1.000 mm

... dynamische Anwendungen • Sehr großer Verfahrbereich von 1300 x 800 x 200 mm • Hohe Beschleunigungen und Geschwindigkeiten kombiniert mit hoher Präzision Dieses Gantry ermöglicht hochdynamische Bewegungen über eine ...

Wiederholbarkeit: 0,3 µm - 2,5 µm
Ladung: 5 kg - 20 kg
Hub: 100 mm - 720 mm

XYZ-Doppel-Inspektionsportal für Halbleiter Kundenspezifisch anpassbar • Ideal zur automatisierten Inspektion von Wafern / Halbleitern • Sehr großer Verfahrbereich von 2 x je 720 x 720 x 100 mm • Erlaubt die Integration von zwei ...

Wiederholbarkeit: 0,005 µm - 4,4 µm
Ladung: 5 kg - 25 kg
Hub: 100 mm - 365 mm

8-Achs-Positioniersystem / Goniometer Kundenspezifisch anpassbar • Automatisierte 8-Achs-Inspektion aus verschiedenen Winkeln • Koaxiales Drehsystem, welches die Kameras / Sensoren / Beleuchtung um einen gemeinsamen ...

Wiederholbarkeit: 0,3 µm - 0,4 µm
Ladung: max 30.0 kg
Hub: 100 mm - 200 mm

... Geradheit mit ± 0.5 µm und Ebenheit bei ± 1 µm • Ebenheitsunabhängiges Interface sowie Justagemöglichkeiten Dieses XYZ Positioniersystem wurde speziell für hochpräzise Messungen von variablen Lasten und bewegten Objekten ...

Wiederholbarkeit: 0,3 µm - 0,5 µm
Hub: 50 mm - 200 mm
Geschwindigkeit: 30 mm/s

XYZ Positioniersystem für hochpräzise automatische optische Inspektion Kundenspezifisch anpassbar: • Ideal für hochpräzise automatisierte Inspektionsprozesse • Hohe Wiederholgenauigkeit bis 0.3 µm • Reduktion von ...

Wiederholbarkeit: 0,3 µm - 0,4 µm
Hub: 100 mm - 200 mm
Geschwindigkeit: 15 mm/s - 25 mm/s

XYZ Laboranalytik System flexibel konfigurierbar mit Rotation Kundenspezifisch anpassbar: • Ideal für den Auf- und Ausbau Ihrer hochpräzisen Analysetechnik • Extrem hohe Wiederholgenauigkeit bis 0.3 µm • Kleinste Schrittweiten und ...

Wiederholbarkeit: 0,001 µm - 4,5 µm
Hub: 50 mm - 360 mm
Geschwindigkeit: 50 mm/s - 200 mm/s

XZ-Phi System Kundenspezifisch anpassbar: • Ideal für den Aus- und Aufbau Ihrer hochpräzise Messanlagen • Messsystem Auflösungen im Submikrometerbereich bis 0.1 µm / 0,0001° • Hochpräzise Wiederholgenauigkeit bis 0.3 µm • Feinste ...

Wiederholbarkeit: 0,5 µm - 1,5 µm
Hub: 50, 150, 300 mm
Geschwindigkeit: 25 mm/s

XYZ System für Labor- und Waferinspektion Kundenspezifisch anpassbar: • Ideal für den Auf- und Ausbau Ihrer hochpräzisen Messstechnik • Sehr hohe Wiederholgenauigkeit bis 0.5 µm • Kleinste Schrittweiten und höchste Zuverlässigkeit ...

Wiederholbarkeit: 0,4 µm - 2,2 µm
Hub: 100 mm - 300 mm
Geschwindigkeit: 1,12 mm/s - 25 mm/s

XZ System für Labor- und Waferinspektion Kundenspezifisch anpassbar: • Ideal für den Auf- und Ausbau Ihrer hochpräzisen Messstechnik • Sehr hohe Wiederholgenauigkeit bis 0.4 µm • Kleinste Schrittweiten und höchste Zuverlässigkeit ...