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Wellenlänge: 130 nm - 770 nm
... Mit dem neuen SPECTRO ARCOS wird Höchstleistung bei Optischen Emissions-Spektrometern mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-OES) neu definiert ÜBERBLICK as neue Dual Side-On Interface (DSOI) erhöht die Nachweisempfindlichkeit und ...
SPECTRO Analytical Instruments
Wellenlänge: 165 nm - 770 nm
... Problemen herkömmlicher Plasmabetrachtungsdesigns zu begegnen. Hierbei kommen eine vertikale Plasmafackel und ein doppeltes optisches Interface zur beidseitigen radialen Betrachtung des Plasmas zum Einsatz. Das Ergebnis: Das DSOI bietet ...
SPECTRO Analytical Instruments
Wellenlänge: 175 nm - 770 nm
... Die leistungsstarke und hochwertige ICP-OES-Lösung für die Routine-Elementanalytik - Dual Side-On Interface mit bis zu Faktor 2 verbesserter Empfindlichkeit: keine zweite Messung, reduzierte Matrixeffekte, verbesserte Richtigkeit, hohe Matrixtoleranz - ...
SPECTRO Analytical Instruments
Wellenlänge: 120 nm - 770 nm
... Hochpräzise Messergebnisse in weniger als 20 Sekunden (Beispiel: niedriglegierter Stahl) und Messung der wichtigsten Legierungselemente in 12 Sekunden (zum Beispiel Eisen, Aluminium und Kupfer) iCAL 2.0 Ein-Proben-Standardisierung des gesamten Systems, ...
SPECTRO Analytical Instruments
... Konsistente Ergebnisse dank der einzigartigen iCAL 2.0 Ein-Proben-Standardisierung, kombiniert mit einem selbstregulierenden optischen System – so ist es unempfindlich gegen Temperaturschwankungen und spart im Durchschnitt 30 Minuten ...
SPECTRO Analytical Instruments
Wellenlänge: 140 nm - 670 nm
Metallverarbeitende Betriebe benötigen in der Qualitätseingangs- und Ausgangskontrolle von Materialien sowie in Zwischenschritten der Produktion eine anspruchsvolle Materialanalytik. Seit über einem Jahrzehnt liefert ein Gerät routinemäßig genau dies. ...
SPECTRO Analytical Instruments
... Schnelle Einzelproben-Standardisierung – basierend auf der Intelligenten Kalibrierlogik (iCAL) von SPECTRO – spart im Durchschnitt 30 Minuten pro Tag Fortschrittliche Optiktechnologie für hohe Leistung und Erschwinglichkeit Das stationäre Funkenspektrometer ...
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