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Die 4. Generation des TESCAN VEGA Rasterelektronenmikroskops (REM) ist mit Wolfram-Filament-Elektronenquelle ausgestattet. Es kombiniert die REM-Bildgebung mit einer Live-Analyse der Zusammensetzung Ihrer Proben zeitgleich in einem einzigen ...
Tescan GmbH
Räumliche Auflösung: 5 µm - 110 µm
... Das kleinste AFM für die kundenspezifische Integration Kompakt Robustheit Einfach zu integrieren Die Oberflächenmorphologie ist eine wichtige Eigenschaft für viele High-Tech-Oberflächen mit Eigenschaften, die bis zu einigen Nanometern ...
Nanosurf
Vergrößerung: 1, 3, 5 unit
Werkstatt Benchtop Inspecting Microscope MM-3020 ist ein photoelektrisches Messverfahren der hohen Präzision und der Leistungsfähigkeit. Sie wird hauptsächlich im 2D Messen, manchmal in 3D außerdem mit Okularlehre angewendet. Die Messen ...
Leader Precision Instrument Co. Ltd
Räumliche Auflösung: 0,5 µm
... Anwendung: Es ist weit verbreitet in der mechanischen, Meter, elektronische und leichte Industrie, Universität, Institut und Metrologie-Abteilung verwendet. Der Messprofilprojektor kann die Kontur Dimension und Oberflächenform der Vielfalt ...
Räumliche Auflösung: 100 nm - 6.000.000 nm
Automatische Brinell-Messungen bieten Vertrauen in die Prüfergebnisse. Foundrax war weltweit das erste Unternehmen, das ein authentisches automatisches optisches Brinell-Messsystem angeboten hat, und besitzt mehr Erfahrung in diesem ...
Foundrax Engineering Products Ltd
... JB-50BD Metallographisches Mikroskop erfüllen eine Vielzahl von Beobachtungsmethoden: Hellfeld, Dunkelfeld, einfaches polarisiertes Licht, differentielle Interferenz, etc. Es kann weit in Gießen, Schmelzen, Wärmebehandlung Forschung, ...
Gewicht: 8,5, 9,5, 10,1, 9,1 kg
Länge: 467 mm
Breite: 192 mm
... Ihr Materialmikroskop mit Auf- und Durchlicht sowie optionalem Wireless Imaging. Primotech ist Ihre clevere Imaging-Lösung mit einem attraktiven Preis-Leistungs-Verhältnis. Greifen Sie kabellos auf mehrere Mikroskope zu - mit Matscope, ...
Hitech Instruments
Länge: 242 mm
Breite: 200 mm
... - IMS-20 umgekehrte Goldphasenmikroskopie nimmt ausgezeichnetes unendliches optisches System und modulares Funktionsdesignkonzept an, das das System leicht aufrüsten und die Funktionen der Polarlichtbeobachtung, Dunkelfeldbeobachtung ...
Shanghai Shangcai testing machine Co.,Ltd
... Das tragbare metallografische Mikroskop HX-50 mit eigener vertikaler Beleuchtungsquelle kann bequem zur Bestimmung der Mikrostruktur verschiedener Metalle und Legierungen verwendet werden, wenn es nicht möglich ist, vor Ort Proben herzustellen. ...
... Das neue inverse Metallurgie-Mikroskop MEC4 von UNITRON ist für die Untersuchung und Analyse von metallurgischen Proben und vorbereiteten Materialien für die Automobil-, Luftfahrt-, Medizintechnik- und Elektronikindustrie konzipiert. ...
Unitron
... Schmuck-Mikroskop (BJM-40101) Produktmerkmale: Das Mikroskop der Schmuckserie ist ein professionelles Instrument, das für Schmuckgeschäfte, Schmuckverarbeitungszentren, Schmuck- und Jade-Inspektionszentren und für die Beobachtung und ...
BYC INDUSTRIAL LIMITED
... Anwendung: Das Video-All-in-One-Gerät hat ein kompaktes und ansprechendes Design. Es verfügt über ein optisches Objektiv mit stufenlosem Zoom und eine hochauflösende Digitalkamera. Das Display, die Kamera und das Ringlicht werden alle ...
Shanghai Hualong Test Instruments Corporation
Räumliche Auflösung: 0,5 µm
... NX-Wafer ist das einzige AFM für die Waferfertigung mit automatischer Fehlerprüfung. Es bietet eine vollautomatische AFM-Lösung für die Fehlerabbildung und -analyse, die die Produktivität der Fehlerprüfung um bis zu 1.000 % verbessert Einzigartige ...
Park Systems
Vergrößerung: 7 unit - 90 unit
... Binokulares Mikroskop mit Stativ ST1 Fluoreszierendes Ringlicht Hochwertiges trinokulares Stereomikroskop mit Boom-Stativ. Hervorragend geeignet für Arbeiten an Leiterplatten mit Fine-Pitch-ICs und anderen Anwendungen. â-Kristallscharfe ...
SMT MAX
Räumliche Auflösung: 5 µm
... Passen Sie Ihre 150-mm-Sondenstation auf der Grundlage flexibler Module zu einem unglaublichen Preis an! FormFactor stellt ein neues modulares Konzept für seine klassenbesten 150-mm-Sondenstationen vor. Damit wird es noch einfacher, ...
Vergrößerung: 7 unit - 45 unit
MEIJI TECHNO AMERICA
Vergrößerung: 3 unit - 663 unit
... Omni-Kern: Potenziale aus dem Kern erschließen Nicht alle Prüfanforderungen und Anforderungen sind gleich. Deshalb haben wir eine Plattform entwickelt, die einer Vielzahl von Bedürfnissen gerecht wird. Der Omni-Kern ist konfigurierbar, ...
Ash Technologies
... Multiteks Werkzeugmikroskope sind multifunktionale Messgeräte, die in erster Linie für die Inspektion und Messung von mechanischen und elektronischen Miniaturteilen und Werkzeugen verwendet werden. Diese Mikroskope werden zur Betrachtung ...
... Das LB-570 Polarisierende Geologische, Mineralogische Metallurgische Binokularmikroskop mit Unendlichem Plan Optischem System (Infinity Color Corrected System) ist speziell für Geologie, Mineralien, Metallurgie, Universitätslehrlabors ...
SAM 300 AUTO WAFER ist eine speziell für die “Inline” Produktionskontrolle entwickelte Produktlinie. Es entspricht der Reinraumklasse 10. Es wurde für die Inspektion von Wafern oder gebondeten Wafern (MEMS) entworfen um Hohlräume, Einschlüsse ...
GOLD MCXI700 Inverses Metallurgisches Mikroskop Inverses Mikroskop für die Kontrolle, Analyse und Untersuchung der Mikrostruktur der verwendeten Materialien. Das spezielle Design ist notwendig für die Betrachtung von großen und schweren ...
MICROS Produktions- & Handels GmbH.
Gewicht: 20 kg
Diese leistungsstarken Messmikroskope mit großem Funktionsumfang bieten eine detaillierte Binokular-Betrachtung und klare seitenrichtige Abbildung mit großem Sichtfeld und Streulichtunterdrückung. Die Mikroskope der Serie MF-U bieten ...
... Das invertierte Emissionsmikroskop ist ein Rückseiten-Analysesystem, das zur Identifizierung von Fehlerstellen durch Erkennung des von den Defekten in Halbleiterbauelementen emittierten Lichts und der Wärme dient. Die Signaldetektion ...
HAMAMATSU
... Das invertierte Emissionsmikroskop ist ein Rückseiten-Analysesystem, das zur Identifizierung von Fehlerstellen durch Erkennung des von den Defekten in Halbleiterbauelementen emittierten Lichts und der Wärme dient. Die Signaldetektion ...
HAMAMATSU
... Das PHEMOS-1000 ist ein hochauflösendes Emissionsmikroskop, das Fehlerstellen in Halbleiterbauelementen lokalisiert, indem es die schwachen Lichtemissionen und Wärmeemissionen erkennt, die von Halbleiterbauelementdefekten verursacht werden. ...
HAMAMATSU
Vergrößerung: 50 unit - 500 unit
... Das computergestützte metallografische Mikroskop TIME-40MW ist ein trinokulares aufrechtes metallografisches Mikroskop. Dieses Gerät verfügt über eine hervorragende Abbildungsleistung und komfortable Bedienung und bietet Kunden kostengünstige ...
Vergrößerung: 50 unit - 500 unit
... TIME-30MW ist ein trinokulares, inverses metallurgisches Mikroskop mit Computer, das eine hervorragende Bildqualität und stabile Leistung bieten kann. Das Gerät ist einfach zu bedienen und verfügt über komplettes Zubehör. Es ist weit ...
Vergrößerung: 50 unit - 500 unit
... TIME-2000W ist ein computergestütztes trinokulares inverses metallurgisches Mikroskop, das zur Identifizierung und Analyse der Struktur und Komponenten verschiedener Metalle und Legierungsmaterialien verwendet wird. Es ist weit verbreitet ...
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