Jeol Transmissionselektronmikroskope
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Gewicht: 100 kg
Bereits das JEOL 300kV-Flagschiff-TEM JEM-ARM300F „GRAND ARM“ markierte Rekorde in Auflösung und EDX-Geschwindigkeit. Mit dem Nachfolgemodell GRAND ARM™ 2 wurde die Stabilität des Systems in zahlreichen Aspekten maximiert. So ermöglicht ...
Jeol
Räumliche Auflösung: 0,08 nm - 0,23 nm
Das JEOL "NEOARM" / JEM-ARM200F zeichnet sich durch eine kalte Feldemissionsquelle (Cold FEG) und einen Cs-Korrektor (ASCOR), der Aberrationen höherer Ordnungen kompensiert, aus. Diese Kombination aus Cold FEG und ASCOR ermöglicht gleichermaßen ...
Jeol
Räumliche Auflösung: 0,19, 0,23 nm
Das JEM-F200 ist ein vielseitiges analytisches Elektronenmikroskop der neuesten Generation. Das Gerät wurde mit dem Ziel konzipiert, ein möglichst breites Anwendungsfeld abzudecken. Neben der speziell entwickelten, anwenderfreundlichen ...
Jeol
Räumliche Auflösung: 0,14 nm - 0,31 nm
JEOL JEM-2100Plus Transmissionselektronenmikroskop Das JEM-2100Plus ist ein Allround-Transmissionselektronenmikroskop, das eine stabile und leistungsfähige Elektronenoptik mit einem hochentwickelten Steuerungssystem für eine verbesserte ...
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