Charakterisierungsgerät DXMOKE

Übersicht

Die DXMOKE series ist eine integrierte optische Messplattform zur quantitativen Charakterisierung der Kerr-Rotation und Elliptizität auf magnetischen Dünnfilmen, Nanostrukturen und spintronischen Bauelementen. Sie liefert Hystereseschleifen und magnetische Kenngrößen wie Koerzitivfeld und Sättigungsfeld und ist konfigurierbar für in-situ- und kryogene Messungen.

Eigenschaften des DXMOKE Oberflächen-Magneto-Optischen-Kerr-Effekt-Systems

• TTL-Modulation einer rauscharmen Laserquelle für stabile optische Anregung.
• Hochempfindliches Photodetektorrohr zur Erfassung von Lichtintensitätssignalen.
• Lock-in-Verstärker zur Erfassung frequenzgesperrter Signale und Verbesserung des Signal-Rausch-Verhältnisses.
• Niedriges Rauschen, hohe Auflösung und thermische Stabilität in den Messleistungen.
• Hochintegrierte optische Baugruppe: einfache Probenmontage und Feineinstellung der Probenstange zur Signalerfassung mit minimaler Ausrichtung.
• Integrierte Kerr-Messung und Mikroskop zur Beobachtung magnetischer Domänen mit 6 µm Auflösung.
• Möglichkeiten für in-situ-Messungen im Vakuum und verschiedene Optionen für Magnetfeld und Kryotechnik.

Grundfunktionen

• Punktuelle Schleifenmessungen: longitudinale, transversale und polare Kerr-Konfigurationen.
• Flächenmapping: Präzisions-XY-Tisch zur MOKE-Abbildung an verschiedenen Positionen der Probenoberfläche.
• 360°-Drehung der Probe oder des Magnetfelds zur Bestimmung leichter/schwieriger Magnetisierungsachsen und zur Messung der Anisotropie.
• Probenhalter mit elektrischer Schnittstelle für magnetoelektrische Kopplungstests und Transportmessungen verfügbar.
• Integrierte Hochgeschwindigkeits-CCD und Mikroskop zur Oberflächenbeobachtung; mit optionalem Polarisator ermöglicht es die Abbildung intensitätsabhängiger Effekte des Polarisationszustands zur Darstellung magnetischer Domänen.

Technische Spezifikationen

• Kerr-Winkelauflösung: < 0,001°.
• Ellipsenauflösung (Elliptizität): < 0,1%.
• Minimale Spotgröße: 10 µm.
• Maximales Magnetfeld: 2,2 T (mit EM7 Elektromagnet-Option).
• Drehwinkelschritt: 0,1°.
• XY-Verschiebungsschritt: 10 µm.
• Rauschpegel: < 1%.
• Kryo-Option: Temperaturbereich 100 K – 300 K; Temperaturregelgenauigkeit ±0,01 °C; Abkühlzeit bis 100 K ≈ 30 min; Heizrate 0,01 – 30 °C/min; Probe im Vakuum gemessen; K9-Glas-Optikfenster zur Minimierung feldinduzierter optischer Rotation.