UV-Spektrometer Nexsa G2 XPS

RöntgenRöntgen-PhotoelektronenDatenerfassung

Das Thermo Scientific Nexsa G2 X-Ray Photoelectron Spectrometer (XPS) System bietet eine vollautomatische Oberflächenanalyse mit hohem Durchsatz und liefert die Daten, um Forschung und Entwicklung voranzutreiben oder um Produktionsprobleme zu lösen. Durch die Integration von XPS mit Ionenstreuungsspektroskopie (ISS), UV-Photoelektronenspektroskopie (UPS), Reflexionselektronen-Energieverlustspektroskopie (REELS) und Raman-Spektroskopie ermöglicht es Ihnen die Durchführung echter korrelativer Analysen. Das System enthält jetzt Optionen für die Probenheizung und Probenvorspannung, um die Bandbreite der möglichen Experimente zu erweitern. Das Nexsa G2 Oberflächenanalysesystem erschließt das Potenzial für Fortschritte in der Materialwissenschaft, Mikroelektronik, Nanotechnologieentwicklung und vielen anderen Anwendungen. Merkmale des Nexsa G2-Oberflächenanalysesystems Leistungsstarke Röntgenquelle Ein neues, optimiertes Röntgenmonochromatordesign ermöglicht die Auswahl eines Analysebereichs von 10 µm bis 400 µm in 5 µm-Schritten, wodurch sichergestellt wird, dass Daten von dem Merkmal erfasst werden, das von Interesse ist, während das Signal maximiert wird. Optimierte Elektronenoptik Die hocheffiziente Elektronenlinse, der halbkugelförmige Analysator und der Detektor ermöglichen eine hervorragende Nachweisbarkeit und eine schnelle Datenerfassung. XPS-Probenbetrachtung Mit dem patentierten optischen Betrachtungssystem des Nexsa G2-Oberflächenanalysesystems und der XPS-SnapMap, die Ihnen hilft, interessante Bereiche schnell zu erkennen, können Sie die Merkmale der Probe in den Mittelpunkt stellen. XPS-Isolator-Analyse Die patentierte Zweistrahl-Flutlichtquelle koppelt Niedrigenergie-Ionenstrahlen mit Elektronen sehr niedriger Energie (weniger als 1 eV), um eine Aufladung der Probe während der Analyse zu verhindern, wodurch in den meisten Fällen die Notwendigkeit einer Ladungsreferenzierung entfällt.