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Testsystem für Halbleiter Magnum Vautomatisch
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Eigenschaften
- Betätigung
- für Halbleiter
- Weitere Eigenschaften
- automatisch
Beschreibung
Das Magnum V-System von Teradyne bietet hohen Durchsatz und hohe parallele Testeffizienz für ultra-hochleistungsfähige NAND-Flash-Tests und DRAM-Speicher.
- Hoher Durchsatz und parallele Testeffizienz
- Entwickelt für ultra-hochleistungsfähige NAND-Flash- und DRAM-Speichertests
Hauptmerkmale:
- Unterstützt fortschrittliche NAND-Flash- und DRAM-Speichergeräte
- Optimiert für Fertigungsumgebungen mit hohem Volumen
- Skalierbare Architektur für zukünftige Speichertechnologien
- Hoher Parallelismus zur Maximierung der Testzelleffizienz
- Umfassende Testabdeckung für Speicherprodukte der nächsten Generation
Anwendungen:
- NAND-Flash-Speichertests
- DRAM-Speichertests
Technische Spezifikationen:
- System: Magnum V
- Testtypen: NAND Flash, DRAM
- Hoher Durchsatz und Parallelismus
- Skalierbar für zukünftige Speichertechnologien
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.