Temperatur-Prüfmaschine HS-LDTS2000

QualitätLeistungsfähigkeitautomatisch

HS-LDTS2000 ist ein optoelektronischer Prüfer für LD-Chips, entwickelt für Produktionsumgebungen zur Bewertung von Langwellen-Laserchips unter kontrollierten Raum- und Hochtemperaturbedingungen. Er integriert automatisierte Handhabung und intelligente Bildverarbeitung zur Unterstützung der Qualitätskontrolle mit hohem Durchsatz.

Hauptfunktionen

• Automatisierter Handhabungs- und Testablauf
• AOI-Aussehensprüfung und OCR-Zeichenerkennung für Front- und Stirnflächen
• Hohe Prüfdurchsatzkapazität

Anwendungsbereiche

• Photonik
• Leistungsbauelemente
• Mikrowellen-RF-Bauelemente
• Sektor der neuen Energie-Fahrzeuge

Vorteile

• Eigenentwickeltes Temperaturregel-Pult mit hochpräziser Regelung, geeignet für Raum- und Hochtemperaturtests
• Hochpräzises Vision-System mit Re-Inspect-Funktion zur Sicherstellung der Produktstabilität
• Beschickungskompatibilität — unterstützt 2" GEL-PAK und 6" Wafer-Ring
• Drehtisch mit separaten synchronisierten Arbeitsstationen zur Steigerung des Durchsatzes

Merkmale / Technische Spezifikationen

• Prüffähigkeit: LIV-Parameter und spektrale Parameter der Vorder- und Rückbeleuchtung von Langwellen-Laserchips unter Raum- und Hochtemperaturbedingungen
• Testmethoden / -prozess: Photolektrische Leistungsprüfung von LD-Chips (photoelektrische Kennwerte & spektrale Messung)
• Produktumfang: LD-Chips
• Chip-Größenbereich: Minimum 0,15 x 0,2 mm; Maximum 10,0 x 10,0 mm
• Ausrüstungseffizienz: Ca. 4,5–6 S/PCS (abhängig von der konkreten Testanwendung)