Digitale Kamera SDV series
Flächen2Dfür Mikroskope

Digitale Kamera - SDV series - SEIWAOPTICAL - Flächen / 2D / für Mikroskope
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Eigenschaften

Technologie
digital, 2D, Flächen
Anwendung
für Mikroskope, für die Halbleiterindustrie, für Wafer
Spektrum
SWIR, VIS
Schnittstelle
USB 3.0, Camera Link
Auflösungsgrad
1280 x 1024, 640 x 512
Auflösung
1,3 Mpx
Weitere Eigenschaften
mit globalem Shutter, InGaAs

Beschreibung

Übersicht
Diese Kamera verwendet Sony InGaAs-Sensoren (SONY IMX990 / SONY IMX991), eingeführt im Mai 2020, und bietet Empfindlichkeit vom sichtbaren Bereich bis zum SWIR (400 nm–1700 nm). Sie ist für industrielle SWIR-Anwendungen konzipiert, z. B. die Rückseiteninspektion von Siliziumwafer-Mustern und IR-Mikroskopie.

USB3-Typ (Zusammenfassung)
Modell: SDV-990A-USB3 / SDV-991A-USB3
Sensor: SONY IMX990 / SONY IMX991
Auflösung: 1280(H) x 1024(V) / 640(H) x 512(V)
Pixelgröße: 5 µm x 5 µm
Abtastbereich: 6,4 mm x 5,12 mm (Diagonal = 8,2 mm) / 3,2 mm x 2,56 mm (Diagonal = 4,1 mm)
Schnittstelle: USB3.0
Verschluss: Globaler Verschluss
Wellenlängenbereich: 400 nm – 1700 nm
Bildrate: 12 Bit (bis zu 72 fps für IMX990; bis zu 137 fps für IMX991)
SNR: 51 dB
Stromversorgung: Eingang DC 12V
Objektivanschluss: C-Mount
Betriebstemperatur: 10 – 40 °C
Lagertemperatur: 0 – 60 °C
Abmessungen: 71,6 (B) x 61,5 (H) x 78,0 (T) mm (ohne Vorsprünge)

Camera Link-Typ (Zusammenfassung)
Modell: SDV-990A-CL / SDV-991A-CL
Sensor: SONY IMX990 / SONY IMX991
Auflösung: 1280(H) x 1024(V) / 640(H) x 512(V)
Pixelgröße: 5 µm x 5 µm
Abtastbereich: 6,4 mm x 5,12 mm (Diagonal = 8,2 mm) / 3,2 mm x 2,56 mm (Diagonal = 4,1 mm)
Schnittstelle: Camera Link
Ausgangsstecker: SDR26pin
Verschluss: Globaler Verschluss
Wellenlängenbereich: 400 nm – 1700 nm
Belichtungszeit: 20,3 µs – 2 s
Bildrate: 12 Bit (bis zu 72 fps für IMX990; bis zu 137 fps für IMX991)
SNR: 51 dB
Stromversorgung: Eingang DC 12V
Objektivanschluss: C-Mount
Betriebstemperatur: 10 – 40 °C
Lagertemperatur: 0 – 60 °C
Abmessungen: 71,6 (B) x 61,5 (H) x 78,0 (T) mm (ohne Vorsprünge)

Diagramm und Anwendungsbeispiele
Auf der Produktseite ist ein Diagramm der relativen Quanteneffizienz in Abhängigkeit von der Wellenlänge für die Sensoren IMX990/IMX991 verfügbar. Typische Anwendungsfälle: IR-Mikroskopie und Rückseitenaufnahmen von Siliziumwafern unter unterschiedlichen Beleuchtungsbedingungen.

Merkmale / technische Daten
  • Sensortypen: SONY IMX990 (1,3MP) und SONY IMX991 (0,32MP)
  • Sensortechnologie: InGaAs (SWIR-empfindlich)
  • Wellenlängenempfindlichkeit: 400 nm – 1700 nm
  • Auflösungen: 1280 x 1024 (IMX990), 640 x 512 (IMX991)
  • Pixelgröße: 5 µm x 5 µm
  • Abtastbereiche: 6,4 mm x 5,12 mm (IMX990), 3,2 mm x 2,56 mm (IMX991)
  • Schnittstellen: USB3.0 (SDV-990A-USB3 / SDV-991A-USB3) und Camera Link (SDV-990A-CL / SDV-991A-CL)
  • Ausgangsstecker (Camera Link): SDR26pin
  • Verschluss: Globales Verschlusssystem
  • Bildrate / Bit-Tiefe: 12 Bit; bis zu 72 fps (IMX990) und bis zu 137 fps (IMX991)
  • SNR: 51 dB
  • Belichtungszeit (Camera Link): 20,3 µs – 2 s
  • Stromversorgung: Eingangsspannung DC 12V
  • Objektivanschluss: C-Mount
  • Betriebstemperatur: 10 – 40 °C
  • Lagertemperatur: 0 – 60 °C
  • Abmessungen: 71,6 (B) x 61,5 (H) x 78,0 (T) mm (ohne Vorsprünge)
  • Hauptanwendungsbeispiel: Rückseiteninspektion von Siliziumwafer-Mustern; IR-Mikroskopie und weitere SWIR-Imaging-Aufgaben

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.