EinführungDer Qscratch 20 ist ein vollautomatisches Makro-/Mikro-Kratzerprüfgerät zur Qualitätskontrolle von Beschichtungen, funktionalen Oberflächen und Bauteilen unter kritischer Belastung. Das System vereint kontrollierte Kraftanwendung, präzise elektronische Laststeuerung, integrierte optische Bildgebung und geführte Abläufe in QpixControl2 für reproduzierbare Kratzprüfungen mit progressiver oder konstanter Last, strukturierter Auswertung, Dokumentation und Reporting.
Produktvorteile- Vollautomatisches Makro-/Mikro-Kratzerprüfgerät für Beschichtungen und Oberflächen
- Einzel- und Mehrfachmessungen für effiziente Prüfreihen
- Elektronische Kraftregelung mit Messbereich 0,5–200 N
- Konstante und progressive Belastung für normkonforme Prüfungen
- 8‑fach motorischer Werkzeugwechsler für Prüfmodule und Objektive
- Motorisierte X/Y/Z-Achsen mit präziser Positionierung
- QpixControl2-Software mit geführtem Kratz-Workflow und automatischer Lc-Erkennung
- Optionale Härte-Erweiterung und Qpix Inspect Analyse-Module für mikroskopische Aufgaben
Prüfverfahren- Progressive Belastung (PFST / ASTM PL): Anfangs- und Endlast sowie Ladegeschwindigkeit werden definiert; die Last steigt entlang der Kratzlänge und sichtbare Ereignisse werden als Lc-Punkte zugewiesen.
- Konstante Belastung (CFST / ASTM CL): Normalkraft bleibt über die Kratzlänge konstant; geeignet für Einzelmessungen, Reihenvergleiche und wiederkehrende QC-Bedingungen.
Normen & Verfahren- DIN EN ISO 20502 / ASTM C1624 — Haftung und mechanische Versagensarten von harten keramischen Schichten mittels Kratzprüfung
- ISO 27307 — Bewertung von Haftung/Kohäsion thermisch gespritzter keramischer Schichten (Transversal-Kratzprüfung)
- ASTM G171 — Bestimmung der Kratzhärte mit definierter Diamantspitze und Auswertung der verbleibenden Kratzbreite
Optisches & BildgebungssystemDer Qscratch 20 verwendet ein von QATM entwickeltes Objektivsystem mit Köhler-Beleuchtung, weißer LED-Beleuchtung und motorischer Blendensteuerung, um hochkontrastreiche, hochvergrößernde Bilder zu liefern, die mit fortschrittlichen Mikroskopen vergleichbar sind. Die optionale integrierte Probebildkamera (A+-Version) erzeugt ein 5 MP Farbübersichtsbild (Sichtfeld 52 × 39 mm) für Navigation und Dokumentation.
Bedienung & BenutzererlebnisDie geführte Bedienung über QpixControl2 unterstützt Testanlage, visuelle Positionierung der Kratzmarken, Einzel-/Mehrfachmessungen, automatische Auswertung von Lc-Ereignissen, Bildaufnahme und integrierte Berichterstellung. Funktionen zur Automation und Labworkflow umfassen Barcode/QR/NFC-Integration, IoT-Konnektivität und automatische Softwareupdates (je nach Konfiguration).
Optionale Analyse-Module (Qpix Inspect)- Crater-grinding: mikroskopische Messung der Beschichtungsdicke (DIN EN ISO 26423)
- Rockwell-Haftprüfung: qualitative Bewertung der Haftung keramischer Beschichtungen (DIN EN ISO 26443)
- Phasenanalyse, Partikelgrößenbestimmung, Schweißnahtvermessung und weitere mikroskopische Auswertungstools in Qpix Inspect integriert
Für LaboreEntwickelt für Labore, die täglich kritische Entscheidungen zu Oberflächen treffen: standardisierte Kratzprüfungen mit hoher Reproduzierbarkeit, effiziente Dokumentation, intuitive Workflows und optionale integrierte Härte- und Analysemodule zur Konsolidierung von Prüfungen auf einer Plattform.
Technische Daten- Messbereich der Prüfkraft: 0,5 - 200 N
- Prüfmodi: Konstante Last und Progressive Last (Einzel- und Mehrfachmessungen)
- Z-Achse: dynamisch automatisiert (CAS), Z-Hub 150 mm
- Werkzeugpositionen: 8‑fach motorischer Werkzeugwechsler (max. 3 Prüfmodule, max. 7 Objektive)
- Lieferumfang Basisgerät: Rockwell-Diamant; Objektive 5×, 20×, 50×
- Objektivtypen: Standard (Apochromat) und High Quality (Semi-Apochromat) für Härteprüfungen und Mikroskopie
- Probenbildkamera (optional A+): 5 MP CMOS Farbe, USB3.0, Sichtfeld 52 × 39 mm
- Motorisierte X/Y-Achse (Kreuztisch) Positioniergenauigkeit X/Y ±0,2 µm
- Tischgröße: 150 × 120 mm
- Verfahrweg: X 150 mm, Y 150 mm
- Bedienelemente: Notausschalter, Start-Taster, Joystick X/Y/Z
- Max. Werkstückgewicht: 50 kg
- Gewicht Basisgerät: 60 kg
- Optional: Härte-Upgrade (Vickers/Knoop/Brinell/Rockwell) und Qpix Inspect Analyse-Module
- Hinweise: *0,5 N und 1 N > 1% Genauigkeit