Röntgenspektrometer 2830 ZT
WDRFAfür LaborMehrkanal

Röntgenspektrometer
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Eigenschaften

Typ
Röntgen, WDRFA
Bereich
für Labor
Weitere Eigenschaften
Mehrkanal

Beschreibung

Der wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenz-Waferanalysator 2830 ZT (WDXRF) bietet die ultimative Möglichkeit zur Messung der Filmdicke und -zusammensetzung. Der 2830 ZT Wafer Analyzer von PANalytical wurde speziell für die Halbleiter- und Datenspeicherindustrie entwickelt und ermöglicht die Bestimmung von Schichtaufbau, Dicke, Dotierstoffgehalt und Oberflächengleichmäßigkeit für ein breites Spektrum von Wafern bis zu 300 mm.

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Kataloge

2830 ZT
2830 ZT
12 Seiten
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Lieferkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.