Einweg-Quellmessgerät 2400

GPIBHochpräzision4-Quadranten

Übersicht
Die 2400 Standardserie von Keithley umfasst Source Measure Units (SMU) mit Vier‑Quadranten‑Quelle/Last für Spannung und Strom und instrumentenähnlicher Messfunktionen. Jede Einheit arbeitet als stabile DC‑Quelle und als 6½‑stelliges Multimeter mit geringem Rauschen, hoher Wiederholbarkeit und präziser Rückmeldung.

Highlights

• Präzise SMU zur I‑V‑Charakterisierung von Halbleitern, Sensoren und Materialien
• Kann Spannung oder Strom liefern und beides simultan messen
• Kompaktes Einzelkanal‑Design für Laborbank und Racks

Integrierte Sweep‑Funktionen

• Lineare Treppensweeps
• Logarithmische Treppensweeps
• Benutzerdefinierte Sweep‑Profile für automatisierte Charakterisierung

Integration mit Schaltsystemen

• Kombinierbar mit Keithley Schaltsystemen für schnelle Mehrpunkt‑Prüfungen
• Typische Anwendungen: Halbleiterbauelemente, Schutzkomponenten, optoelektronische Tests, beschleunigte Stresstests

Einsatz in Ausbildung und Labor

• Vereinigt mehrere Instrumentenfunktionen zur Vermittlung der Ohm'schen Gesetzes und I‑V‑Messungen
• Geeignet für Hochschullabore, Forschungsgruppen und F&E‑Bänke

Modelle (Tabelle)
Spalten: Modell / Touchscreen / Kanäle / Max. Strom / Max. Spannung / Auflösung (Strom / Spannung) / Leistung / Listenpreis
2401. — Nein — 1 — 1 A — 20 V — 1 pA / 100 nV — 20 W — US $6,380
2400 — Nein — 1 — 1 A — 200 V — 1 pA / 100 nV — 20 W — US $10,000
2410. — Nein — 1 — 1 A — 1100 V — 1 pA / 100 nV — 20 W — US $18,200

Software & Ressourcen
Die KickStart‑Software ermöglicht I‑V‑Charakterisierungen ohne Programmierung sowie Exportfunktionen. Firmware‑Updates, CAD‑Modelle, detaillierte Spezifikationen und Applikationshinweise sind für die Systemintegration verfügbar.

Technische Daten

• Maximale Leistungshüllkurve (Serie): 60 W DC
• Spannungsbereich (Serie): 100 nV bis 1100 V
• Strombereich (Serie): 1 pA bis 5 A (modell-/optionsabhängig)
• Messauflösung: 1 pA / 100 nV
• Grundgenauigkeit: 0,012 % (6,5 Stellen)
• Max. Geschwindigkeit: bis zu 2000 Messwerte/s in den Puffer
• Schnittstellen: GPIB, USB, Ethernet (je nach Konfiguration)
• Typische Anwendungen: I‑V‑Charakterisierung, Produktionstests, Lehre und F&E