Der GR-511F kann Gase steuern, die zur Kühlung der Rückseite von Wafern verwendet werden, die durch ein elektrostatisches Chuck-System fixiert sind.
Dank seiner Stabilität und Genauigkeit ist der GR-511F ideal für die Steuerung des Helium- und Argonflusses in Wafer-Kühlsystemen.
MERKMALE
Druckregelung mit höherer Stabilität und Genauigkeit
Massendurchflusssensor (Option)
Kompatibel für verschiedene Fittings
RoHS-Konformität
Anwendungsbeispiel
Im folgenden Beispiel steuert der GR-511F die Gase, die zur Kühlung der Rückseite von Wafern verwendet werden, die durch ein elektrostatisches Chuck-System fixiert sind.
ventiltyp - C: Normalerweise geschlossen
Lecksicherheit - ≤ 7 × 10-11 Pa-m3 /s (He)
Maximaler Betriebsdruck - 300 kPa (A)
Druckbeständigkeit - 350 kPa (A)
Betriebstemperatur - 5-50 °C (Garantierte Temperaturgenauigkeit: 15-40 °C)
Spannungsversorgung - +15 VDC±5 %, 250 mA -15 VDC±5 %, 250 mA
Leistungsaufnahme - 7,5 VA
Schnittstelle - Analog
Gas *1 - He, Ar, N2
Standardanschlüsse - 1/4 Zoll VCR oder gleichwertig
Skalenendwert Druck - 1.333 kPa (A) (10 Torr), 2.666 kPa (A) (20 Torr),
6.666 kPa (A) (50 Torr)
Druckregelbereich - 1-100 %F.S.
Druckgenauigkeit *2 - ±0,5 %R.S.
Nullpunkt-Temperaturkoeffizient - ±0,04 %F.S./°C
Messspannen-Temperaturkoeffizient - ±0,04 %R.S./°C
Ansprechzeit *3 - ≤ 1 sec
Druckeinstellsignal - 0,1-10 VDC (1-100 %F.S.) Eingangsimpedanz ≥ 1 MΩ
Option:0,05-5 VDC (1-100 %F.S.) Eingangsimpedanz≥ 1 MΩ
Druckausgangssignal - 0-10 VDC (0-100 %F.S.) Mindestwiderstand 2 kΩ
Option:0-5 VDC (0-100 %F.S.) Mindestwiderstand 2 kΩ
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