Detektor / Silicon Drift Vortex®-60EX

RöntgendigitalCMOS

Vortex-60EX Silizium-Drift-Röntgendetektoren haben aktive Flächen zwischen 30 mm2 und 80 mm2. Vortex-60EX-Detektoren werden aus hochreinem Silizium mit modernster CMOS-Produktionstechnologie hergestellt. Sie zeichnen sich durch eine hervorragende Energieauflösung (<130 eV FWHM bei Mn Kα ist typisch) und eine hohe Zählrate aus. Bei einer sehr kurzen Peakzeit von 0,1 µs wird eine Ausgangszählrate von 900 kcps erreicht. Ein einzigartiges Merkmal dieser Detektoren ist ihre Fähigkeit, hohe Zählraten mit sehr geringem Verlust an Energieauflösung und minimaler Spitzenwertverschiebung mit der Zählrate zu verarbeiten. - Röntgenfluoreszenzspektroskopie (XRF), sowohl Bulk- als auch Mikrofluoreszenzspektroskopie - Micro XRF (zusätzliche Größen in naher Zukunft verfügbar) - Röntgendiffraktion (XRD) - Partikelinduzierte Röntgenemission (PIXE) - Totalreflexions-Röntgenfluoreszenz (TXRF) - Anwendungen der Synchrotronstrahlung Der Vortex-EX wird bei nahezu Raumtemperatur betrieben und durch einen thermoelektrischen Kühler (TEC) gekühlt. Er kann so oft wie nötig geschaltet werden, ohne dass die Leistung des Detektors beeinträchtigt wird. Die Abkühlzeiten betragen in der Regel weniger als 2 Minuten. Die Vortex-EX Röntgenspektroskopiesysteme bestehen aus einer Detektoreinheit und einer Steuerbox, die Stromversorgungen für den Detektor, TEC und einen optionalen digitalen Pulsprozessor mit PI-SPEC Software enthält. Der komplette Detektor enthält außerdem einen ladungsempfindlichen Vorverstärker und ein Temperaturstabilisierungssystem, das Schwankungen der Umgebungstemperatur ausschließt.