Schichtdickenmessgerät FT160 series

elektronischPräzision

Ausgestattet mit einer polykapillaren Röntgenfokussieroptik und einem Silizium-Driftdetektor ermöglicht das FT160 eine hochpräzise und durchsatzstarke Schichtdickenmessung von elektronischen Bauteilen im Nanobereich. Polykapillare Röntgenfokussieroptik Ermöglicht hochpräzise Messungen durch Bestrahlung mit leuchtstarken primären Röntgenstrahlen im Bereich von etwa 30 μmφ. Silizium-Drift-Detektor (SDD) als Detektionssystem Silizium-Drift-Detektor mit hoher Zählrate ermöglicht hochpräzise Messungen. Automatische Messassistenzfunktion Die präzise automatische Mehrpunkt-Messfunktion ermöglicht eine hohe Effizienz der Messung. Einfache Bedienung durch einfache Schnittstelle und Hilfefunktion der Software Tägliche Routinemessungen können mit Hilfe von registrierten anwendungsähnlichen Rezepten einfach durchgeführt werden. Sicherheitsbewusstes Gerätedesign Das geschlossene Gehäuse minimiert das Risiko des Austretens von Röntgenstrahlen erheblich. Das breite Türdesign verbessert die Sicht auf die Probe und die Bedienbarkeit des Geräts.