Sekundärionen-Massen-Spektrometer AutoSIMS

zur Analyseautomatischkompakt

Automatisches Oberflächenanalysesystem Hiden Analytical hat mit dem AutoSIMS ein völlig eigenständiges automatisches Oberflächenanalysesystem entwickelt, ein innovatives Sekundärionen-Massenspektrometer (SIMS), das Routine- und Wiederholungsanalysen im unbeaufsichtigten Betrieb durchführen kann. Mit einem vollautomatischen X-Y-Tisch und einer erweiterten Halterung kann das AutoSIMS von Hiden hunderte von Prozessen pro Tag im ununterbrochenen 24/7-Betrieb durchführen. Kontamination mit Silikon Flexible Solarzelle Chirurgischer Stent Elektronische Materialien Hiden Analytical ist spezialisiert auf SIMS-Instrumente für die Tiefenprofilierung im Nanobereich und die quantitative Oberflächenanalyse von unzähligen verschiedenen Probentypen, von umfassenden Workstations bis hin zu kompakten SIMS-Lösungen. Das AutoSIMS besteht aus der gleichen langlebigen Primär-Ionenkanone mit Sauerstoffquelle und dem MAXIM-Analysator, die in der gesamten SIMS-Produktlinie von Hiden zu finden sind, und zusätzlich aus einem modularen Kassetten-Probenhalter und einem softwaregesteuerten X-Y-Probentisch. Dies bildet die Grundlage für die hochzuverlässige Erfassung relevanter Oberflächenspektren und dreidimensionaler (3D) Tiefenprofile ohne menschliches Eingreifen. Die lange Lebensdauer der Ionenkanone stellt sicher, dass ein gleichbleibender, hochstabiler Strahl über längere Betriebszeiten hinweg erzeugt wird, so dass der Kassettenhalter und der Probentisch kontinuierliche Probendosen für die Batch-Analyse mit hohem Durchsatz liefern können. Selbst unerfahrene Bediener können das automatische Oberflächenanalysesystem programmieren, indem sie die Matrix der Versuchsparameter über eine einfache Tabellenkalkulation anpassen.