1. Metrologie - Labor
  2. Physiko-chemische Analytik
  3. EDRFA-Spektrometer
  4. HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND
video corpo

Fluoreszenzspektrometer X-RAY 5000
EDRFAProzess

Fluoreszenzspektrometer
Fluoreszenzspektrometer
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen
 

Eigenschaften

Typ
Fluoreszenz, EDRFA
Bereich
Prozess

Beschreibung

Röntgenfluoreszenz-Messsystem zur kontinuierlichen in-line Messung und Analyse dünner Schichten, wie CIGS, CIS oder CdTe, im Produktionsprozess Merkmale • Einbaumesskopf für kontinuierliche Messungen in Fertigungsanlagen • Detektoren: Silizium PIN oder Silizium SDD • Einfachste, schnelle Kalibrierung mit Werkstück-Master direkt im Fertigungsablauf • Einsatz im Vakuum oder Umgebungsluft • Messung auch auf sehr heißen Substraten bis 500° C • Robuste und servicefreundliche mechanische Konstruktion Typische Einsatzgebiete • Photovoltaik (CIGS, CIS, CdTe) • Analyse dünner Schichten auf Metallbändern, Metallfolien und Kunststofffolien • Kontinuierliche Fertigung • Prozessüberwachung von Sputter- und Galvanikanlagen • Messung an großflächigen Produkten
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Lieferkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.