Optisches Mikroskop C10506-07-06

LaborInversNahinfrarot

Verarbeitung von sichtbarem Licht bis zum nahen Infrarotlicht in einem Gerät durch Ausstattung mit einem Multiwellenlängenlaser Das iPHEMOS®-MPX ist ein hochauflösendes Emissionsmikroskop, das Fehlerstellen in Halbleiterbauelementen aufspürt, indem es die von Defekten verursachten schwachen Licht- und Wärmeemissionen erkennt. iPHEMOS ist eine eingetragene Marke von Hamamatsu Photonics K.K. (Japan). Merkmale Zwei ultrahochempfindliche Kameras sind montierbar Die Abdeckung verschiedener Detektionswellenlängenbereiche für die Emissionsanalyse und die thermische Analyse ermöglicht die einfache Auswahl einer Analysetechnik, die der Probe und der Fehlerart entspricht. Bis zu 4 Lichtquellen für OBIRCH, DALS, EOP und Lasermarker sind montierbar Hochempfindliche Makrolinse und bis zu 10 Linsen für jede Detektorempfindlichkeitswellenlänge Hochpräziser Tisch für fortschrittliche Geräte Grundlegende Anzeigefunktionen Überlagerte Anzeige/Kontrastverstärkungsfunktion Das iPHEMOS-MPX überlagert das Emissionsbild mit einem hochauflösenden Musterbild, um Fehlerstellen schnell zu lokalisieren. Die Kontrastverstärkungsfunktion macht ein Bild klarer und detaillierter. Anzeigefunktion Beschriftungen: Kommentare, Pfeile und andere Indikatoren können an jeder beliebigen Stelle eines Bildes angezeigt werden. Anzeige des Maßstabs: Die Skalenbreite kann mit Hilfe von Segmenten auf dem Bild angezeigt werden. Rasterdarstellung: Vertikale und horizontale Rasterlinien können auf dem Bild angezeigt werden. Thumbnail-Anzeige: Bilder können als Miniaturansichten gespeichert und abgerufen werden, und es können Bildinformationen wie z. B. die Koordinaten der Bühne angezeigt werden. Geteilte Bildschirmanzeige: Musterbilder, Emissionsbilder, überlagerte Bilder und Referenzbilder können gleichzeitig in einem 6-Fenster-Bildschirm angezeigt werden.