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Stationäres Dickenmessgerät 3 nm - 100 µm | F30 seriesmit spektraler ReflexionsanalyseBenchtop
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Eigenschaften
- Typ
- stationär
- Technologie
- mit spektraler Reflexionsanalyse
- Weitere Eigenschaften
- Benchtop
Beschreibung
Messen Sie Abscheideraten, Schichtdicken, optische Konstanten (n und k) und die Uniformität von Halbleitern und dielektrischen Schichten in Echtzeit mit dem F30 System.
Beispielschichten
MBE und MOCVD: Glatte und lichtdurchlässige, oder geringfügig asorbierende Filme können vermessen werden. Das schließt nahezu sämtliche Halbleiter, von AIGaN bis GaInAsP, ein.
Verwandte Suchbegriffe
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.