Dickenmessgerät mit spektraler Reflexionsanalyse - alle Hersteller aus dem Bereich der Industrie

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

Zum Produktvergleich hinzufügen Aus der Vergleichsliste entfernen

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

Zum Produktvergleich hinzufügen Aus der Vergleichsliste entfernen

stationäres DickenmessgerätthicknessGAUGE C.C

Glas für dünne Materialien Trockenfilm

stationäres Dickenmessgerät

thicknessGAUGE C.C

Messbereich: 2 mm
Messgenauigkeit: 4 µm
Messbreite: 200 mm - 400 mm

Die thicknessGAUGE C.C Sensorsysteme nutzen konfokal-chromatische Wegsensoren zur Dickenmessung. Diese Sensoren erlauben die Messung mit enormer Genauigkeit und hoher Messrate. Das innovative Messverfahren ermöglicht darüber hinaus die ...

Zum Produktvergleich hinzufügen Aus der Vergleichsliste entfernen

Dickenmessgerät mit spektraler ReflexionsanalyseSR710S

stationär Folien Metall

Dickenmessgerät mit spektraler Reflexionsanalyse

SR710S

... Messung dünner Beschichtungen auf Laminaten, Metallen und metallisierten Substraten Speziell entwickelt, um dünne, klare oder leicht pigmentierte organische Beschichtungen auf Aluminium oder metallisierten Filmen, bedruckten Film- oder ...

Zum Produktvergleich hinzufügen Aus der Vergleichsliste entfernen

stationäres Dickenmessgerät3 nm - 100 µm | F30 series

mit spektraler Reflexionsanalyse Benchtop

stationäres Dickenmessgerät

3 nm - 100 µm | F30 series

Messen Sie Abscheideraten, Schichtdicken, optische Konstanten (n und k) und die Uniformität von Halbleitern und dielektrischen Schichten in Echtzeit mit dem F30 System. Beispielschichten MBE und MOCVD: Glatte und lichtdurchlässige, oder ...

Zum Produktvergleich hinzufügen Aus der Vergleichsliste entfernen

Dickenmessgeräte mit spektraler Reflexionsanalyse

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

stationäres DickenmessgerätthicknessGAUGE C.C

Dickenmessgerät mit spektraler ReflexionsanalyseSR710S

stationäres Dickenmessgerät3 nm - 100 µm | F30 series

Dickenmessgeräte mit spektraler Reflexionsanalyse

Hersteller

Anwendung

Technologie

Messbereich

Messgenauigkeit

Messbreite

Auflösung

Umgebungstemperatur

Weitere Eigenschaften

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

stationäres DickenmessgerätthicknessGAUGE C.C

Dickenmessgerät mit spektraler ReflexionsanalyseSR710S

stationäres Dickenmessgerät3 nm - 100 µm | F30 series