Automatische Prüfanlage HATINA GP

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Produktübersicht
HATINA GP ist eine ATE-Plattform (automated test equipment) für die Charakterisierung und die produktionstauglichen Tests von Smart Power ICs und SoCs mit hohem Parallelitätsgrad. Das System basiert auf einem modularen Mainframe, der bis zu 10 Steckplätze unterstützt und analoge/power Quellen, digitale Kanäle und Messinstrumente in einer kompakten, energieeffizienten Plattform vereint. Die Steuerung erfolgt über eine grafische Benutzeroberfläche; die Software Kronos ermöglicht die automatisierte Erstellung von Testprogrammen.

Hauptfähigkeiten
HATINA GP unterstützt einen flexiblen Instrumentenmix je Steckplatz: hochfrequente digitale Kanäle, leistungsfähige DC-Versorgungen und präzise Messmodule. Das modulare Chassis erleichtert Skalierung und Austausch von Modulen. Pro Steckplatz stehen Ressourcen wie digitale I/O, PPMU und aktive Lasten, hochstromfähige DCS-Module, AWG, Digitizer und Differenzialmessgeräte zur Verfügung. Geeignet für Wafer-Level- und Gehäusetests.

Gründe

• Integrierter Multiplexer reduziert die Komplexität der Load-Board
• Parallele Testeffizienz >99% zur Minimierung der Prüfkosten (COT)
• Modulare Instrumentierung ermöglicht Anpassung an Markt- und Technologietrends
• Kompakte Bauform und geringer Energieverbrauch zur Optimierung der Betriebskosten
• Automatisierte Testprogrammerstellung mit Kronos zur Verkürzung der Entwicklungszeit

Überblick / Anwendungsfälle
Entwickelt für parallele Hochleistungs-Tests von ASICs, PMICs, Smart Power IC/SoC in den Bereichen Automotive, Industrie und Power Management. Unterstützt Wafer- und Gehäusetests, vereinfacht Load-Board-Design und lässt sich in automatisierte Produktionslinien integrieren. Typische Pro-Steckplatz-Ressourcen: digitale Kanäle (bis zu 256 CH pro Steckplatz; einige Karten unterstützen höhere Geschwindigkeiten), hochstromfähige DC-Quellen, präzise Messmodule, AWG und Digitizer.

Spezifikationsübersicht

• Modellfamilie: HATINA GP (General-Purpose ATE)
• Mainframe: modular, bis zu 10 Steckplätze
• Abmessungen (D×W×H): 640 mm × 670 mm × 700 mm
• DCS HP: 16 Kanäle, ±80 V / ±10 A, floating
• DCS LP: 160 Kanäle, -80 V / +110 V @ ±200 mA
• DCS MP: 80 Kanäle, -80 V / +110 V @ ±4 A
• Digital: bis zu 256 digitale Kanäle pro Steckplatz; 256 CH pro Board; PPMU; aktive Last
• Pattern-Speicher: 64M pro Pin (bis zu 128M)
• Speichertiefe: 64M Vektoren DSIO / HRAM pro Pin
• AWG: 16 Kanäle, 400 MSPS
• Digitizer / TMS: 16 Kanäle, 80 MSPS
• Differenz-Spannungsmesser: 16 Kanäle
• Digitale Kanäle pro Steckplatz: Board-abhängig (in detailliertem Material bis zu 800 MHz referenziert)
• Software: Kronos-Toolset für automatisierte Testprogrammerstellung