Testsystem für die Elektronik DMT EVO

für Forschung und EntwicklungLaborfür integrierte Analogschaltung

Übersicht
DMT EVO ist ein kompaktes Mixed‑Signal‑ und Digital‑Automatiktestsystem (ATE) zur effizienten Charakterisierung und Validierung von ICs in F&E, Labor, Vorserien‑ und Post‑Produktionsphasen. Das modulare Mainframe bietet bis zu 5 Steckplätze zur Kombination von Leistungsquellen, digitalen Modulen, AWG/Digitizern und Messgeräten in einer skalierbaren Plattform. Die Steuerung erfolgt über eine intuitive grafische Benutzeroberfläche; Kronos erzeugt automatisch optimierte Testprogramme.

Hauptvorteile

• Sehr geringe Stellfläche bei hoher Ressourcendichte für Labor und Vorserie.
• Kronos Automatic Code Generator reduziert die Test‑Entwicklungszeit.
• Integrierte Debug‑Tools, einschließlich Oszilloskop, für Fehlersuche und Analyse.
• Flexible Modulkombinationen — konfigurierbar bis zu 5 Steckplätze.
• Ausgelegt für die Charakterisierung analoger und Mixed‑Signal‑Bausteine über den Produktlebenszyklus.

Produktmerkmale / Highlights

• Modulare Mainframe‑Architektur (bis zu 5 Steckplätze) für skalierbare Instrumentenintegration.
• Hohe Hardware‑Integration liefert umfangreiche Ressourcen bei geringem Platzbedarf.
• Kronos‑Software wandelt Testbeschreibungen in optimierten Testcode um.
• Grafische Oberfläche für Designer und Testingenieure; geringe Programmieranforderungen.
• Geeignet für Laborvalidierung, F&E, Vorserie und Endprüfung von verpackten Bauteilen.

Eingebundene Messinstrumente (pro Steckplatz und System)

• DC‑Quellen (DCS): HP, MP und LP Kanal‑Familien für unterschiedliche Leistungsbereiche.
• Digitale I/O: hochdichte digitale Kanäle mit Pattern‑Speicher und DSIO‑Support.
• Zeitmessung, differentielle Messung, AWG und Digitizer für präzise Zeitmessung und analoge Erfassung.
• Pikoammeter‑Funktionalität für sehr niederstromige Messungen mit hoher Auflösung.

Technische Daten

• Modell (Handelsname): DMT EVO
• Systemarchitektur: Modulares Mainframe, bis zu 5 Steckplätze (konfigurierbar)
• Abmessungen (T × B × H): 500 mm × 350 mm × 230 mm
• DCS HP: 8 Kanäle, ±80 V / ±10 A (floating)
• DCS MP: 40 Kanäle, -80 V / +110 V @ ±4 A
• DCS LP: 80 Kanäle, -80 V / +110 V @ ±200 mA
• Digitale Kanäle: Bis zu 256 digitale Kanäle pro Steckplatz (200/400 MHz)
• Digitale PPMU: 256 PPMU pro Board
• Elektrischer Bereich Digital I/O: −1.25 V bis 6.75 V; 50 mA Drive; aktive Last ±12 mA
• Pattern‑Speicher / DSIO: 64 M Pattern‑Speicher und 32 M DSIO (pro relevanter Ressource)
• AWG / Digitizer / TMS / Differential Meter: 8 Kanäle 400 MSPS AWG; 8 Kanäle 80 MSPS Digitizer (TMS); 8 Differential Meter
• AWG & Digitizer Dichte: Bis zu 16 AWG/Digitizer pro Steckplatz (systemabhängig)
• Zeitmessung & differentielle Messung: Unterstützung bis zu 32 mux4
• Pikoammeter: Strombereich 2 nA bis 2 µA (Genauigkeit bis ±20 pA)
• Software: Grafische Benutzeroberfläche; Kronos automatischer Testprogramm‑Generator enthalten
• Typische Einsatzfälle: IC‑Charakterisierung, Entwicklung von Mixed‑Signal‑Tests, F&E, Labor und Vorserie