Leistungsfähigkeitstestsystem VIP Ultra

ImpedanzSchockspannungfür die Elektronik

Übersicht
Der VIP Ultra von Cosmic ist ein ATE (Automatic Test Equipment) der nächsten Generation für Hochdurchsatztests an Leistungshalbleitern (Si, SiC, GaN). Für die Integration in Reinräume ausgelegt, skaliert er parallel von 48 Prüfplätzen bei 80 V / 250 A bis zu 16 Prüfplätzen bei 4 kV / 250 A und ermöglicht DC‑ und Energie‑Stress‑Testpakete bei kompakter Stellfläche und optimierten Gesamtkosten.

Hauptvorteile / Gründe

• Niedrigste Gesamtkosten des Betriebs für Testabläufe von Leistungskomponenten
• Extrem hoher Durchsatz durch umfangreiche parallele Testmöglichkeiten
• Minimale Stellfläche zur einfachen Integration mit Probern und Handlingsystemen

Produktübersicht
VIP Ultra ist ein konfigurierbares ATE für Tests an Leistungshalbleitern, einschließlich diskreter Bauteile, Powermodule und Treiber‑ICs. Es integriert mehrkanalige DC‑Quellen und‑senken, kanalbezogene Messmodule, hochdichte digitale I/O mit per‑Pin Mess-/Quellfunktionen (PPMU), LCR‑Meter, hochempfindliche Picoamperemeter, TMUs und programmierbare Last‑/Messschaltungen für DC‑ und Energie‑Stress‑Tests. Vorgestellt auf der APEC 2025 und in Fachmedien gewürdigt.

Konfigurationen

• VIP Ultra STD 80V
• VIP Ultra HV 1.7kV
• VIP Ultra HV 4kV

Technische Daten

• Anzahl Prüfplätze: STD: 48; HV 1.7kV: 32; HV 4kV: 16
• Abmessungen (T × B × H): 647 mm × 638 mm × 702 mm
• DCS‑Quellen (DCS MP): STD: 48 Kanäle, 80 V @ ±4 A; 1.7kV: 32 Kanäle; 4kV: 16 Kanäle
• Hochspannungsversorgung: 80 V @ 250 A (48 Plätze, STD); 1,7 kV @ 250 A (32 Plätze); 4 kV @ 250 A (16 Plätze)
• Load Programming Module: Bis zu 48 Hochstrom‑Sink/Source bis 250 A @ 80 V + TMU und differentielles Messschaltungskonzept (Varianten: 32 / 16 Kanäle)
• Digitalkanäle: Bis zu 320 Digitalkanäle (STD / 1.7kV); bis zu 160 Digitalkanäle (4kV)
• PPMU: Bis zu 64 PPMU (STD / 1.7kV); bis zu 16 PPMU (4kV)
• Floating Digital Driver: STD bis 48 Kanäle (-5 V bis 18 V); 1.7kV bis 32; 4kV bis 16
• TMU: 48 Timing‑Messmodule pro Prüfplatz
• LCR‑Meter: 48 (STD); 32 (1.7kV); 16 (4kV)
• Picoammeter: Bis zu 48 / 32 / 16; Strombereich 2 nA bis 2 µA mit Genauigkeit bis ±20 pA
• Messgenauigkeit: Picoammeter‑Genauigkeit bis 20 pA; PPMU‑Fähigkeit pro Kanal
• Induktive & resistive Lasten: kundenspezifische Boardlösungen
• Digitale IO‑Spannungsbereich: 0–5,5 V (50 mA) mit DSIO‑Speicher und PPMU‑Support pro Kanal
• Parallele Leistungsbeispiele: 48 Plätze @ 80 V / 250 A und 16 Plätze @ 4 kV / 250 A
• Integration: Kompaktes Format für Reinraumintegration und Kompatibilität mit Probern und Handlers