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Halbleiter-Inspektionsgerät Qualität
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Eigenschaften
- Anwendung
- Halbleiter
- Merkmal
- Qualität
Beschreibung
Die CIMS-Erweiterungsoptionen für die Messtechnik wurden entwickelt, um die Prüfmöglichkeiten von Halbleiterbauelementen weiter zu verbessern. Diese Optionen lassen sich in CIMS-Anlagen integrieren und bieten unseren Kunden damit eine neue Ebene der Qualitätssicherung.
Zu den CIMS-Erweiterungsoptionen gehören einzigartige 2D- und 3D-Messfunktionen, die es ermöglichen, während des normalen Prüfzyklus erweiterte Messungen durchzuführen. Dadurch entfällt der Bedarf an speziellen Offline-Messsystemen und der Feedback-Zyklus der Qualitätssicherung wird verkürzt.
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Semiconductors Inspection and Metrology
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.
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