XRF-Spektrometer M6 JETSTREAM

Laborfür IndustrieanwendungenMess

Micro-XRF auf großen Proben (auch macro-XRF oder MA-XRF genannt) ist zu einer maßgeblichen Methode für die Analyse von Gemälden, geologischen Proben, archäologischen Artefakten und industriellen Komponenten geworden. Das M6 JETSTREAM führt diese Analysen mit höchster Geschwindigkeit und Genauigkeit durch. Mit seinem fahrbaren Gestell und dem verstellbaren Rahmen kann das M6 JETSTREAM vor Ort eingesetzt werden, anstatt die Probe ins Labor zu transportieren. Messung von aufrechten Proben oder horizontalen Oberflächen Abtastbarer Bereich bis 800 x 600 mm² "On the fly"-Analyse für höchste Mapping-Geschwindigkeit Einstellbare Messfleckgröße zur Anpassung an die Struktur der Probe XFlash® SDD-Technologie mit bis zu 2 x 60 mm² Detektorfläche Optionales Blendenmanagementsystem (AMS) zur Verbesserung der Tiefenschärfe auf unebenen Oberflächen Räumlich aufgelöste Informationen über die Elementverteilung fast jeder Oberfläche Aufnahme von Daten über große Bereiche in einem Durchlauf Kombination von hochauflösenden optischen Bildern mit einem kompletten Spektrum pro Pixel in einem HyperMap-Datensatz Verarbeitung der Daten und Extraktion von Objektspektren, Linienscans und chemischen Phasen aus einem Map Quantifizierung von Spektren mit standardfreien Fundamentalparameter-Methoden (FP) Minimierung von Kosten und Zeit durch Vermeidung von Logistikaufwand bei der Gewährleistung der Sicherheit wertvoller Objekte