Partikelgrößenmessgerät / dynamische Bildanalyse BeVision D3

dynamische Bildanalyseautomatischfür Pulver

Übersicht
Die BeVision D3 Series ist ein vollautomatisches Dynamic Image Analysis (DIA) System zur präzisen Charakterisierung von Pulvern, Granulaten und partikulären Materialien über einen großen Größenbereich.

Hauptmerkmale und Vorteile

• Messbereich: 0,5 μm – 26 mm
• Über 37 Größen- und Formparameter für umfassende Charakterisierung
• Hoher Durchsatz: typische Messdauer ~3 Minuten
• Duales hochauflösendes CMOS-Kamerasystem zur gleichzeitigen Aufnahme grober und feiner Partikel
• Bildbasierte Analyse konform zu ISO 13322-2 und ISO 9276
• Automatisierter Workflow, nahezu wartungsfrei und vollständige Probenerfassung
• Eingebautes Siebkorrrelationsmodul für Vergleichbarkeit mit Siebanalysen
• Präzise Erkennung von Oversize- und Undersize-Partikeln

Bedienerfreundliche BeVision DIA Software
Die BeVision DIA Software bietet eine vollständige Datenanalyseplattform mit mehreren Messmodi (manuell, automatisch, offline), erweiterten Screening- und Filterfunktionen, Nachanalyse ohne erneute Messung, Mehrparameter-Vergleich, anpassbaren Ausgabeformaten und benutzerdefinierten Vorlagen.

Software-Übersicht
Informationsleiste — zeigt Probe- und Testmetadaten; Umschalten zwischen Volumen-/Flächen-/Anzahlverteilungen
Verteilungsdiagramm — anpassbare Histogramme und Klassifikationen für Größen- oder Formverteilungen
Streudiagramm — 2D-Auswertung (z. B. Größe vs. Form) zur Identifikation von Trends, Clustern und Gemischen
Funktionsleiste — Schnellzugriff: Diagramm hinzufügen, Rohpartikelbilder anzeigen, nachanalysieren, Screening/Filter, Berichte exportieren
Wichtige Kennzahlen — Mittelwert, Spannweite, D10/D50/D90 und benutzerdefinierte Kennzahlen
Partikelgalerie — erfasste Partikelbilder, sortierbar nach Größe oder Form
Partikeldetails — vollständige Größen- und Formdaten zu jedem Bild anzeigen

Partikelgrößen- und -formparameter
Größenparameter
Äquivalente Durchmesser (Fläche/Perimeter); Feret-Durchmesser (Max/Min, XLF); Martin-Durchmesser (Max/Min); Legendre-Ellipsenachsen (Groß/klein); geodätische Länge; Dicke; minimale Sehne; kleinstes umschreibendes Rechteck (lange/kurze Durchmesser)

Formparameter
Aspektverhältnis, Länge/Breite, Ellipsenachsenverhältnis; Rundheit (mehrere Algorithmen), Unregelmäßigkeit, Kompaktheit, Ausdehnung, Box-Verhältnis; Konkavität, Konvexität, Solidität; Verlängerung, Geradlinigkeit

Spezialfunktionen

• Duales CMOS-Kamerasystem zur einmessigen Charakterisierung breiter Größendistributionen
• Mischungsanalyse und Dickenmessung für schuppige/plattenförmige Partikel
• Längen- und Breitenmessung für längliche Partikel

Konformität & Normen
Entwickelt zur Erfüllung der Anforderungen von ISO 13322-2 und ISO 9276 für bildbasierte Partikelanalyse.

Technische Daten

• Messbereich: 0,5 μm – 26 mm
• Parameter: 37+ Größen- und Formmetriken (Fläche/Perimeter, Feret, Martin, Ellipsenachsen, geodätische Länge, Dicke, Aspektverhältnis, Rundheit, Konvexität, Solidität etc.)
• Typische Messdauer: ~3 Minuten
• Kameras: duale hochauflösende CMOS für grobe + feine Erfassung
• Betrieb: vollautomatisierter Workflow mit BeVision DIA Software (manuell, automatisch, offline)
• Datenexport: anpassbare Berichte, multiple Exportformate und Vorlagen
• Spezialfunktionen: Siebkorrrelationsmodul, Mischungsanalyse, Dickenmessung für schuppige Partikel, Screening/Filter
• Probennahme: vollständige Probenrückgewinnung, geringer Wartungsaufwand
• Normen: ISO 13322-2, ISO 9276