Kartographiesystem für Wafer E142

Ein Schlüssel zur Rückverfolgbarkeit einzelner Bauelemente - Machen Sie sich bereit für die nächste Stufe der Inline-Produktion. ICs werden immer komplexer, dichter, kleiner und qualitätskritischer - mit einem kleinen Mangel. Durch bloßes Anschauen kann man nicht erkennen, ob sie brauchbar sind oder nicht. An dieser Stelle kommt Substrate Mapping E142 ins Spiel. E142 wendet eine virtuelle Karte wie eine Repräsentation der physikalischen Welt auf viele gängige Substrate wie z.B. Wafer, Streifen und Trays an. Besi Switzerland hat Strip Mapping basierend auf E142 auf dem Esec Die Bonder 2100 implementiert. Streifen-Identifikation Lesen von 2D DataMatrix bis zu 100 µm Punkte Kann CODE39 Barcode bis zu 200 µm Striche lesen Bevorzugte StripID-Position: In der Nähe der vorderen oder hinteren Kante SEMI E142-konforme Streifenabbildungsstruktur E142.2 SECS II-konforme Kommunikation Konfigurierbarer Download und Upload von Strip-Maps BinCodeMap-Erzeugung konfigurierbar TransferMap-Erzeugung konfigurierbar Wafer Mapping über Stream12 weiterhin verfügbar