Topographie-Mikroskope

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SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
TM4000PlusIII

Vergrößerung: 10 unit - 250.000 unit

... Das TM4000 III wurde als logische Erweiterung der optischen Stereomikroskopie entwickelt und ist ein Einstiegsgerät für die Rasterelektronenmikroskopie. Es ermöglicht Ihnen, Proben in kürzester Zeit mit guter Auflösung, Tiefenschärfe und Kontrast zwischen ...

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Rasterkraftmikroskop
Rasterkraftmikroskop

Räumliche Auflösung: 0,02 µm

... Produktübersicht
Das Rasterkraftmikroskop (wafer-level AFM) ist ein hochauflösendes Rastersondeninstrument, das zur Charakterisierung der dreidimensionalen Oberflächenmorphologie und multifunktionaler Eigenschaften von Leitern, Halbleitern und ...

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