Mikroskope für flache Muster

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Raster-Transmissions-Elektron-Mikroskop
Raster-Transmissions-Elektron-Mikroskop
SU9000II

Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie trägt zum ultimativen FE-SEM mit überragender Strahlhelligkeit und -stabilität ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
SU5000

Räumliche Auflösung: 1,2 nm

... Mit EM Wizard werden Anfänger über Nacht zu Experten. - Die automatische Achsenjustierung (Autokalibrierung) versetzt das Mikroskop bei Bedarf in den "besten Zustand". - Eine robuste "ausziehbare" Probenkammer nimmt große ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
SU series

Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm

... Leistung und Power auf einer flexiblen Plattform Die Rasterelektronenmikroskope SU3800/SU3900 von Hitachi High-Tech bieten sowohl Bedienbarkeit als auch Erweiterbarkeit. Der Bediener kann viele Vorgänge automatisieren und ihre hohe Leistung ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
DM6 M LIBS

2-in-1 Lösung für visuelle und chemische Materialinspektion mit 90 % Zeitersparnis Lösung zur Analyse der Zusammensetzung von Mikrostrukturen DM6 M LIBS Kombinieren Sie die visuelle und qualitative chemische Inspektion in einem einzigen ...

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Leica Microsystems GmbH
optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
DM2700 M

Das Materialmikroskop kombiniert hochwertige Leica Optik mit einer modernen universellen Weißlicht LED-Beleuchtung. Es ist ein ideales Inspektionsmikroskop für Routineaufgaben in Metallographie, Geowissenschaften, Forensik, Qualitätskontrolle ...

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Leica Microsystems GmbH
Inspektionsmikroskop
Inspektionsmikroskop
DM8000 M

Durch neue optische Funktionen wie den optionalen Makro-Modus oder die schräge UV-Beleuchtung (OUV, mit i-line UV Option) wird beim Einsatz des Leica DM8000 M nicht nur das Auflösungsvermögen, sondern auch der Durchsatz bei der Inspektion ...

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Leica Microsystems GmbH
optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
MML1000

Vergrößerung: 40 unit - 400 unit

Ein robustes Zoom-Stereomikroskop für die professionelle Untersuchung von Elektronik-, Feinmechanik-, Kunststoff- und Medizinprodukten. Es wird zur Inspektion, Montage, Analyse, beim Löten und Polieren und zur Feinbearbeitung benutzt ...

optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
MBL3200

Vergrößerung: 40 unit - 800 unit

... zu können. Bei einem aufrechten Mikroskop befinden sich das Objektiv unter dem Präparat und der Kondensor über dem Präparat, das ist beseonders geeignet für die Betrachtung auf Objektträgern. Bei einem inversen Mikroskop ...

optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
MSZ5000

Vergrößerung: 45 unit

Ein robustes Zoom-Stereomikroskop für die professionelle Untersuchung von Elektronik-, Feinmechanik-, Kunststoff- und Medizinprodukten. Es wird zur Inspektion, Montage, Analyse, beim Löten und Polieren und zur Feinbearbeitung benutzt ...

opto-digitales Mikroskop
opto-digitales Mikroskop
MVM

Das neue „Machine Vision Microscope“ (MVM) ist ein rein digitales Mikroskop mit allen Eigenschaften, die ein Mikroskop ausmachen. Es verfügt über ein apochromatisch hochkorrigiertes Mikroskopobjektiv ...

Mikroskop für die Metallurgie
Mikroskop für die Metallurgie
DS series

... Umgekehrte Mikroskope sind kompakt, langlebig und werden für hohe Vergrößerungsanforderungen verwendet. Sie sind ideal für die Analyse von Einbauproben mit flachen Probenoberflächen und sind für die Verwendung ...

Polarisationsmikroskop
Polarisationsmikroskop
ECLIPSE LV100N POL

Gewicht: 17 kg
Länge: 490 mm
Breite: 251 mm

... unter Verwendung einer ganzen Reihe von speziellem Zubehör. Ci-POL ermöglicht eine Reihe von Studien mit einem kompakten Mikroskop. Nikon ECLIPSE LV100N POL und Ci-POL Diese Geräte haben eine episkopische und diaskopische ...

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Nikon Metrology
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