Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop SU5000
für Analyse3DIn-Situ

Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
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Eigenschaften

Typ
Feldemissions-Rasterelektronen
Anwendungsbereich
für Analyse
Beobachtungstechnik
BF-STEM, 3D, DF-STEM, In-Situ
Konfigurierung
bodenstehend
Elektronenquelle
Schottky-Feldemission
Detektortyp
Sekundärelektronen, Rückstreuelektronen
Optionen und Zubehör
computergestützt
Weitere Eigenschaften
für die Nanotechnik, hochauflösend, automatisiert, Rasterelektronen mit variablem Druck, für flaches Muster, für polierte Proben, für Topographie, für die Asbesterkennung, für simultane Erfassung, für Geowissenschaften, mit starker Vergrößerung
Räumliche Auflösung

1,2 nm

Beschreibung

Das innovative analytische FE-SEM ermöglicht einen einfachen Wechsel zwischen Hochvakuum- und variablem Druckmodus. EM Wizard ist ein wissensbasiertes System für die REM-Bildgebung, das über grundlegende voreingestellte Bedingungen und Rezepte hinausgeht. Seine Benutzerfreundlichkeit eröffnet ein neues Tor für die Materialforschung, die Entwicklung und den Bereich jenseits unserer Vorstellungskraft. Das SU5000 FE-SEM hat die Arbeit mit dem REM für immer verändert. Die bahnbrechende computergestützte Technologie von Hitachi, der so genannte EM Wizard, bietet eine neue Ebene der REM-Bedienung und -Steuerung. Ob Experte oder Anfänger, das Ergebnis ist jetzt dasselbe: Bilder im Nanomaßstab in höchster Qualität für jedermann zugänglich! - Eine neuartige, revolutionäre Benutzeroberfläche, der EM Wizard, bietet allen Anwendern ein Optimum an Auflösung, Wiederholbarkeit und Durchsatz. Mit EM Wizard werden Anfänger über Nacht zu Experten. - Die automatische Achsenjustierung (Autokalibrierung) versetzt das Mikroskop bei Bedarf in den "besten Zustand". - Eine robuste "ausziehbare" Probenkammer nimmt große Proben auf (-200 mmφ, -80 mmH). - Schneller Probenwechsel mit Evakuierung zur Beobachtung in 3 Minuten oder weniger. - Automatisierte, intuitive On-Demand-Bildoptimierung während der Untersuchung. - Ein visueller und interaktiver Leitfaden bietet eine Auswahl an REM-Modi, um optimale Betriebsbedingungen zu gewährleisten. - Mit dem 3D-MultiFinder-Tool können die Proben einfach gekippt und gedreht werden, wobei das Bild zentriert und fokussiert bleibt. Ein neu entwickelter ringförmiger Rückstreuelektronendetektor (BSD) erfasst gleichzeitig topografische und kompositorische Informationen aus mehreren Winkeln.

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VIDEO

Messen

Sie können diesen Hersteller auf den folgenden Messen antreffen

analytica 2024
analytica 2024

9-12 Apr. 2024 München (Deutschland) Halle A2 - Stand 113

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    36th Control 2024
    36th Control 2024

    23-26 Apr. 2024 Stuttgart (Deutschland) Stand 7103

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    * Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.