HAMAMATSU Messsysteme

... Das optische NanoGauge-Dickenmesssystem C12562 ist ein kompaktes, platzsparendes, berührungsloses Schichtdickenmesssystem, das so konzipiert ist, dass es einfach in Anlagen installiert werden kann, wo es benötigt wird. In der Halbleiterindustrie ...

... Das optische NanoGauge Dickenmesssystem C10178 ist ein berührungsloses Schichtdickenmesssystem, das spektrale Interferometrie nutzt. Die Schichtdicke wird durch die spektrale Interferometrie schnell mit hoher Empfindlichkeit und hoher ...

... Das Multipoint-NanoGauge-Dickenmesssystem C11295 ist ein Schichtdickenmesssystem, das die spektrale Interferometrie nutzt. Es ist für die Messung der Schichtdicke als Teil des Halbleiterherstellungsprozesses sowie für die Qualitätskontrolle ...

... Das optische NanoGauge Dickenmesssystem C10323 ist ein mikroskopisches Dickenmesssystem. Objekte mit unregelmäßigen Oberflächen, die ein hohes Maß an Streulicht erzeugen würden, können nicht auf Makroebene gemessen werden. Bei diesen ...

... Um hocheffiziente OLED-Bauteile zu entwickeln, wird die Verbesserung der Lichtausbeute als wichtiger Parameter anerkannt, und die Forscher sind sich der Bedeutung der Kontrolle und Bewertung der molekularen Ausrichtung von OLED-Bauteilen ...

... üblicherweise mit der Elektrolumineszenzmethode (EL) gemessen wird. Für diese Anwendung wurde das externe Quanteneffizienz-Messsystem C9920-12 entwickelt. Ulbricht-Kugel: 3,3 Zoll Innendurchmesser, reflektierendes Material: ...