Chotest Mess-Profilometer
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... 1. Auswertung der Oberflächenkontur: Es kann Radius, Winkel, Abstand, Koordinaten, Kreis, kreisförmigen Querschnitt zu bewerten, und bestimmen die Punkte, jeder Schnittpunkt, Koordinatenachse, gerade Linie, vertikale Linie, Kreis und ...
Chotest Technology Inc.

... Die SJ5720-OPT-Serie ist in der Lage, sowohl die Oberflächenrauheit als auch das Profil nach einmaligem Scannen zu messen. Darüber hinaus gibt es ein spezielles Softwaremodul für die Messung und Analyse von großen asphärischen ...
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... Rauheitsparametern. Mit seiner einzigartigen Lichtquelle kann es verschiedene Präzisionsteile mit glatter und rauer Oberfläche messen. Anwendungen Es wird für die Messung und Analyse der Oberflächenrauheit und des Profils ...
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... Rauheitsparametern. Mit seiner einzigartigen Lichtquelle kann es verschiedene Präzisionsteile mit glatter und rauer Oberfläche messen. Es wird für die Messung und Analyse der Oberflächenrauheit und des Profils von Präzisionskomponenten ...
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... Rauheitsparametern. Mit seiner einzigartigen Lichtquelle kann es verschiedene Präzisionsteile mit glatter und rauer Oberfläche messen. ...
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... 1. Einmaliges Scannen für Profil- und Rauheitsparameter wie Ra und Pt 2. Oberflächenrauhigkeit: R-Parameter, P-Parameter, W-Parameter, usw. 3. Auswertung des Oberflächenprofils: Es kann Radius, Winkel, Abstand, Koordinaten, Kreis, kreisförmigen ...
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... fortschrittlichen zwei-Achsen-Gestänge Motion Control-Algorithmen, kann realisiert werden, X, Z Dual-Achsen-Gestänge Scannen, Mess-Stift in der Oberfläche des Werkstücks zu tun Profilierung Scannen (aktives Scannen), ...
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... fortschrittlichen zwei-Achsen-Gestänge Motion Control-Algorithmen, kann realisiert werden, X, Z Dual-Achsen-Gestänge Scannen, Mess-Stift in der Oberfläche des Werkstücks zu tun Profilierung Scannen (aktives Scannen), ...
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... Rauheitsparametern. Mit seiner einzigartigen Lichtquelle kann es verschiedene Präzisionsteile mit glatter und rauer Oberfläche messen. Anwendungen Es wird für die Messung und Analyse der Oberflächenrauheit und des Profils ...
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