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Plattform / korrelative Mikroskopie ZEISS Shuttle & Find
Transfer

Plattform / korrelative Mikroskopie
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Eigenschaften

Funktion
Transfer
Anwendung
korrelative Mikroskopie

Beschreibung

Um alle Details Ihrer Probe erfassen zu können, müssen Sie sie häufig mithilfe mehrerer Methoden analysieren. Wenn Sie vom Mikro- zum Nanobereich wechseln, kann es erforderlich sein, dass Sie ein Lichtmikroskop mit einem Elektronenmikroskop (CLEM) oder ein Röntgenmikroskop mit einem FIB-REM (CXF) korrelieren. Die korrelative Mikroskopie von ZEISS bietet Ihnen integrierte Lösungen und nahtlose Workflows. Entscheiden Sie sich für ZEISS als einzigen Anbieter von Licht-, Elektronen-, Ionen- und Röntgenmikroskopen und profitieren Sie von jahrelanger Erfahrung auf dem Gebiet korrelativer Analysen. Mit der einzigartigen, probenorientierten Korrelation von Bildern und Daten profitieren Sie bei Ihrer Arbeit von mehr als einer Mikroskopietechnik.

Kataloge

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Messen

Sie können diesen Hersteller auf den folgenden Messen antreffen

BIEMH 2024
BIEMH 2024

3-07 Juni 2024 Bilbao (Spanien) Halle 6 - Stand C-10

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    * Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.