Fokussiertes Ionen Strahl System ZEISS Crossbeam 340 & 540

Verbinden Sie die Imaging- und Analyseleistung eines hochauflösenden Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops mit den Bearbeitungsfunktionen eines fokussierten Ionenstrahls (FIB) der nächsten Generation. Und das ganz unabhängig davon, ob Sie in einem wissenschaftlichen Labor oder in einer Industrieumgebung arbeiten. Das modulare Plattformkonzept gibt Ihnen die Möglichkeit, Ihr System entsprechend Ihren dynamischen Anforderungen anzupassen. Beim Abtragen, Imaging oder bei der 3D-Analyse beschleunigt ZEISS Crossbeam Ihre FIB-Anwendungen.