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Optisches Partikelmessgerät ZEISS SmartPIfür ForschungszweckeProzessBenchtop
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Eigenschaften
- Technologie
- optisch
- Anwendung
- für Forschungszwecke, Prozess
- Weitere Eigenschaften
- Benchtop, automatisch
Beschreibung
Erkennung, Analyse und Klassifizierung von Partikeln
Der Smart Particle Investigator (SmartPI), Ihre moderne Lösung für die Partikelanalyse und -klassifizierung, verwandelt ein Rasterelektronenmikroskop in eine sofort einsatzbereite Lösung für die technische Sauberkeit oder für Metall- und Stahlanwendungen. SmartPI umfasst alle Aspekte der REM-Steuerung, Bildverarbeitung und Elementaranalyse (EDS) in einer einzigen Anwendung.
Steuern Sie REM-Imaging und EDS-Analysen mit einem Softwareprogramm.
Führen Sie automatisierte, unbeaufsichtigte Partikelanalysen durch.
Erstellen Sie wiederholbare Daten und standardkonforme Berichte.
Kombinieren Sie SmartPI mit ZEISS Lichtmikroskopen für Partikelanalysen, um einen korrelativen Workflow zu konfigurieren.
Profitieren Sie von dem globalen ZEISS Service und Support für Ihr gesamtes System.
SmartPI erfüllt die Normen ISO 16232 und VDA 19 für technische Sauberkeit.
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Messen
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.