ZEISS ABIS III vereint höchste Inspektionsgeschwindigkeit mit zuverlässiger Detektion aller relevanten Oberflächendefekte wie Dellen, Beulen, Einfallstellen, Welligkeiten, Einschnürungen, Risse und nun auch Kratzer und Druckstellen. Das System prüft bewegte und stehende Bauteile reproduzierbar und mit höchster Präzision direkt in der Produktionslinie – in Taktzeit. Neben der Inline-Anwendung ist auch der Atline-Einsatz in der Produktionsumgebung möglich. Die patentierte Multi-Color-Light-Technologie ermöglicht die Erkennung selbst kleinster Defekte. Ein digitaler Prüfbericht wird bereits nach wenigen Sekunden bereitgestellt. So stehen Funktionen wie ein Q-Stop und digitale Qualitätsinformationen wie Defektvisualisierungen für eine gezielte Nacharbeit stets zur Verfügung. Diese bilden die Basis für geschlossene Regelkreise und die Voraussetzung zur Umsetzung der proaktiven Prozesssteuerung (Smart Process Control). In Deutschland entworfen und entwickelt, um höchsten Qualitätsanforderungen gerecht zu werden, ist ZEISS ABIS III die ideale Lösung für moderne Presswerke und den zukunftsorientierten Karosseriebau. Ein technisches Highlight dabei ist das neu entwickelte MCL-Modul. Die patentierte Multi-Color-Light-Technologie ermöglicht die Erfassung von kleinsten Fehlerarten mit einer Detektionsrate von bis zu 20 Hz bei einer Auswertungszeit von unter 0,5 Sekunden pro Sensoraufnahme.
In Kombination mit der Software ZEISS ABIS V20 werden Oberflächenmerkmale sekundenschnell erkannt und nach den Vorgaben individueller Konzernstandards bewertet. Die Software visualisiert sämtliche Fehlerarten in Echtzeit und speichert die Prüfergebnisse digital in einer Datenbank.