Das Flaggschiff-In-Circuit-Testsystem von Teradyne für die Produktionstests von Leiterplatten ist für komplexe, hochintegrierte Platinen optimiert und verfügt über SafeTest-Schutz.
- Flaggschiff-In-Circuit-Testsystem für Produktionstests von Leiterplatten
- Optimiert für komplexe und hochintegrierte Leiterplatten (PCBs)
- Verfügt über SafeTest-Schutz, um die Sicherheit von Platinen und Komponenten während des Tests zu gewährleisten
- Entwickelt für Hochdurchsatz-Fertigungsumgebungen
- Unterstützt fortschrittliche Testabdeckung und Diagnostik
- Skalierbare Architektur, um eine breite Palette von Produktionsanforderungen zu erfüllen
- Kompatibel mit einer Vielzahl von Testvorrichtungen und Automatisierungslösungen
Technische Spezifikationen / Merkmale:
- Anwendung: In-Circuit-Tests von Produktionsplatinen
- Hauptmerkmal: SafeTest-Schutz
- Optimierung: Komplexe, hochintegrierte Platinen
- Hersteller: Teradyne