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Silizium-Wafer / 5 inch (125 mm)
6 inch (150 mm)200 mm (8 inch)4 inch (100 mm)

Silizium-Wafer / 5 inch (125 mm) - TECNISCO Ltd. - 6 inch (150 mm) / 200 mm (8 inch) / 4 inch (100 mm)
Silizium-Wafer / 5 inch (125 mm) - TECNISCO Ltd. - 6 inch (150 mm) / 200 mm (8 inch) / 4 inch (100 mm)
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Eigenschaften

Scannermerkmale
5 inch (125 mm), 6 inch (150 mm), 200 mm (8 inch), 4 inch (100 mm), 300 mm (12 inch)

Beschreibung

Übersicht
Ultrapure Siliziumteile für die Halbleiterherstellung und -bewertung. Hergestellt mit Cross-edge‑Technologie und einem strengen Qualitätssicherungssystem, um Front‑End‑ und Prozessintegrationsanforderungen zu erfüllen.

Wesentliche Vorteile
  • Material: ultrareines Silizium (Monokristall / Polykristall) zur Minimierung des Kontaminationsrisikos.
  • Thermische Eigenschaften entsprechen Siliziumwafern (Wärmeleitfähigkeit, spezifische Wärme, thermischer Ausdehnungskoeffizient) und reduzieren Schäden sowie verbessern Ausbeute und Produktivität.
  • Hervorragende Wärmeleitfähigkeit für gleichmäßige und stabile Schichtdickenverteilung.
  • Hohe Wärme‑ und Korrosionsbeständigkeit für erhöhte Haltbarkeit bei Hochtemperaturprozessen.
  • Präzisionsbearbeitung für komplexe Formen zur Anpassung an unterschiedliche Geräteanforderungen.
  • Einwerkstoffkonstruktion verhindert Delaminationen von Beschichtungen und damit verbundene Kontaminationsrisiken.


Siliziumprodukte (Beispiele)
CVD-Susceptors, Ringe für verschiedene Anlagen | Fokusringe | Reinigungslehren
Wandplatten für Implantationsdomes | Rohre | Stifte
Lehren für optische Wellenleiter‑Wafer | Tische | Düsen

Siliziumwafer für Dicing‑Tests
Wafer für Pre‑Dicing, Versuche und Evaluierungen sind verfügbar.

Standard‑Spezifikationen
Oberfläche: einseitig spiegelpoliert. Verfügbare Durchmesser und Dickenoptionen:
Durchmesser — Dicke (μm):
4 in — ① 400–700 | ② 500±25 | ③ 530±25
5 in — ① 500–700 | ② 550±25 | ③ 625±25
6 in — ① 500–700 | ② 450±50 | ③ 625±25
8 in — ① 725–? | ② 725±50
12 in — ① 775±50
Standardverpackung: Coin‑Stack. Lieferung in Cases möglich nach Vereinbarung.

Sonstiges
Partikelkontrollierte Wafer für Front‑End‑Einsatz verfügbar (Partikelspezifikation: <30 Partikel >0,2 μm) je nach Spezifikation.

Beispiele für Si/Keramik‑Bearbeitung
Hochpräzise Bearbeitung von Si, Al2O3, AlN, Saphir u.Ä. Beispiele: Stangendicing bis ~100 μm mit Reduktion von Chipping; burr‑armes Dicing metallisierter Keramiken.

Technische Merkmale / Spezifikationen
  • Material: ultrareines Silizium (Monokristall / Polykristall).
  • Oberflächenbehandlung: einseitig spiegelpoliert / einseitig geätzt.
  • Unterstützte Durchmesser: 4 in, 5 in, 6 in, 8 in, 12 in.
  • Dickenoptionen: siehe Standard‑Spezifikationen oben (μm, durchmesserabhängig).
  • Anwendungen: CVD‑Susceptors, Fokusringe, Reinigungslehren, Wandplatten für Implantationsdomes, Rohre, Stifte, Lehren für Wellenleiter‑Wafer, Tische, Düsen, Dummy‑Wafer.
  • Bearbeitungsfähigkeit: hochpräzise, komplexe Formen, Feindicing bis ~100 μm, Burr‑Reduktion bei metallisierten Keramiken.
  • Partikelkontrollierte Wafer: verfügbar für Front‑End (≤30 Partikel >0,2 μm) auf Anfrage.
  • Verpackung: Standard Coin‑Stack; Case‑Lieferung je nach Spezifikation möglich.
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.