Die Quarzkristall-Mikrowaage QCM200 misst Masse und Viskosität in Prozessen, die an oder in der Nähe von Oberflächen oder in dünnen Schichten stattfinden. Dieses System umfasst einen Controller, eine Quarzoszillator-Elektronik, einen Quarzhalter, drei Quarze und eine Windows-Software.
QCM200 Quarzkristall-Mikrowaage
Die Quarzkristall-Mikrowaage QCM200 misst Masse und Viskosität in Prozessen, die an oder in der Nähe von Oberflächen oder in dünnen Schichten stattfinden. Dieses System umfasst einen Controller, eine Quarzoszillator-Elektronik, einen Quarzhalter, drei Quarze und eine Windows-Software.
Das Gerät misst die Resonanzfrequenz und den Widerstand eines 5 MHz, AT-geschliffenen Quarzkristalls. Die Resonanzfrequenz ändert sich als lineare Funktion der Masse des auf der Kristalloberfläche abgelagerten Materials. Der Widerstand bei Resonanz ändert sich mit der Viskosität / Elastizität des Materials (Film oder Flüssigkeit), das mit der Kristalloberfläche in Kontakt ist.
Als gravimetrisches Instrument kann das QCM200 Massen im Bereich von Mikrogramm bis zu Bruchteilen eines Nanogramms messen. Die Nachweisgrenzen entsprechen Submonolayern von Atomen. Beobachtungen von Konformationsänderungen, wie z. B. Phasenübergänge, Quellungen und Vernetzungen, sind leicht möglich.
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