Hochauflösende SWIR-Hyperspektralkamera (960–2500 nm)
Die Specim SX25 ist eine hochauflösende Hyperspektralkamera für den kurzwelligen Infrarotbereich (SWIR) für die anspruchsvollste Materialanalyse. Sie arbeitet im Bereich von 960 bis 2500 nm und bietet 640 räumliche Pixel, bis zu 392 auswählbare spektrale Bänder, eine spektrale Auflösung von 8 nm und ein überragendes Signal-Rausch-Verhältnis von 1500:1 – sie erfasst selbst die engsten spektralen Merkmale mit außergewöhnlicher Präzision und Datenqualität.
Die Specim SX25 ist die erste Wahl für Forschungs-, Labor- und Industrieanwendungen, bei denen Präzision, Wiederholbarkeit und Effizienz entscheidend sind.
- Hohe Auflösung: Unübertroffene Präzision
- Überlegenes Signal-Rausch-Verhältnis: Detaillierte und zuverlässige Ergebnisse
- GigE Vision-Schnittstelle: Nahtlose Systemintegration
- Flexible Hochwertige Optik: Objektivoptionen und einstellbarer Arbeitsabstand von Weitwinkel- bis Makroaufnahmen
- Eingebaute Erweiterte Bildverbesserung: Einsatzbereite Daten mit minimaler Nachbearbeitung
- Einheitliche Spektralkalibrierung: Konsistente und vergleichbare Daten über Einheiten hinweg
Präzise und wiederholbare Materialanalyse jenseits des Sichtbaren
Von der Inspektion von Beschichtungsschichten und der Klassifizierung von Mineralien und Erzen bis hin zur Lebensmittelqualitätsprüfung, landwirtschaftlicher und pharmazeutischer Forschung und dem Erhalt des kulturellen Erbes kombiniert die Specim SX25 räumliche Genauigkeit, spektrale Details und hohe optische Leistung, um den Anforderungen der anspruchsvollsten Benutzer gerecht zu werden.
Typische Anwendungen:
- Oberflächen- und Beschichtungsinspektion
- Klassifizierung von Mineralien und Erzen
- Lebensmittelinspektion
- Pharmazeutische und medizinische Forschung
- Kunststoff- und Textilrecycling
- Erhaltung des kulturellen Erbes und der Kunst
- Landwirtschaft und Vegetation
- Umweltüberwachung
- Arbeitsabstand: Der Abstand vom Objekt zur ersten Linsenoberfläche.
- Objektlänge: Die Größe des Objekts in der Richtung senkrecht zur Scanrichtung einer Zeilenbildkamera, auch bekannt als Querfeld.
- Objektbreite: Die Größe des Objekts in der Scanrichtung einer Zeilenbildkamera, auch bekannt als Längsfeld.
- Schärfentiefe: Die ungefähre Schärfentiefe, berechnet mit dem modellierten RMS-Fleckdurchmesser als Zerstreuungskreis.
- Abtast-/Pixelgröße: Die Querpixelgröße am Objekt mit der kleinsten Binning-Einstellung (normalerweise 1 Bin) der Kamera, auch bekannt als geometrisches Querpixel-Sichtfeld.
- Minimaler Arbeitsabstand: Der minimale Arbeitsabstand, der durch das Linsendesign definiert ist. Bei Makroobjektiven ist dies der einzige Abstand, bei dem das Objektiv verwendet werden kann.
Technische Spezifikationen / Merkmale:
- SWIR-Spektralbereich: 960–2500 nm
- 640 räumliche Pixel
- Bis zu 392 auswählbare spektrale Bänder
- Spektrale Auflösung von 8 nm
- Signal-Rausch-Verhältnis von 1500:1
- GigE Vision-Schnittstelle
- Erweiterte Bildverbesserung
- Einheitliche Spektralkalibrierung
- Flexible Objektivoptionen