Federkontakt Quad-00

Übersicht
Die Micro Probe Series von Smiths Interconnect umfasst Federkontaktsonden, die für Testvorrichtungen mit feinem Raster entwickelt wurden. Der Rasterbereich liegt bei 0.020" (0,51 mm) bis 0.030" (0,76 mm), die typischen Sondenlängen betragen 0.50" bis 1.00". Die Familie ist kompatibel mit den Steckgehäusen der Quad-00- und Quad-0-Serien und nutzt die IDI Spring Probe-Technologie.

Merkmale & Vorteile

• Konzipiert für Tests bei feinem Raster und Anforderungen an Mikro-Kontakt
• Kompatibilität mit Quad-00- und Quad-0-Serien (Sonden und Aufnahmebuchsen)
• Strombelastbarkeit zwischen 0.30 A und 0.50 A
• Federkraft typ. 0.70–0.75 oz.
• Maximale Gesamtlänge ≤ 0.900" (22.86 mm)
• IDI Spring Probe-Technologie für zuverlässige Kontaktleistung

Produktspezifikationen (Tabelle)
Probe | Probe OAL | Max Travel | Mating Receptacle
Quad-00 Series | 0.740" (18.80 mm) | 0.100" (2.54 mm) | Quad-00 Series
Quad-0 Series | 0.900" (22.86 mm) | 0.100" (2.54 mm) | Quad-0 Series

Anwendungen
Geeignet für Testvorrichtungen von Leiterplatten mit feinem Raster und für Mikroelektronik-Tests, die kompakte Geometrie und präzisen Hub erfordern.

Technische Daten

• Rasterbereich: 0.020" (0,51 mm) bis 0.030" (0,76 mm)
• Typische Sondenlänge: 0.50" bis 1.00"
• Strombelastbarkeit: 0.30 A bis 0.50 A
• Federkraft: 0.70 bis 0.75 oz.
• Maximale Gesamtlänge: ≤ 0.900" (22.86 mm)
• Max. Hub: 0.100" (2.54 mm)
• Kompatible Aufnahmefamilien: Quad-00 Series, Quad-0 Series
• Technologie: IDI Spring Probe