EDRFA-Spektrometer EDX-8100
energiedispersiver RöntgenfluoreszenzXRFfür die Halbleiterindustrie

EDRFA-Spektrometer - EDX-8100 - Shimadzu France - energiedispersiver Röntgenfluoreszenz / XRF / für die Halbleiterindustrie
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Eigenschaften

Typ
EDRFA, energiedispersiver Röntgenfluoreszenz, XRF
Bereich
für die Halbleiterindustrie, für Elementaranalysen, für Photovoltaikanlagen, für die Elektronik
Konfigurierung
Tisch
Detektortyp
SDD
Weitere Eigenschaften
hochempfindlich, hochauflösend
Länge

46 cm
(18,11 in)

Breite

59 cm
(23,23 in)

Höhe

36 cm
(14,17 in)

Beschreibung

Produktübersicht
Der EDX-8100 ist ein energie-dispersives Röntgenfluoreszenz-Spektrometer (EDXRF) für Routine- und erweiterte Elementanalysen von Feststoffen, Pulvern, Flüssigkeiten und Dünnschichten. Es vereint eine große Probenskammer mit geringem Installationsbedarf und unterstützt Vakuum- sowie Helium-Spülungs-Modi zur verbesserten Nachweisbarkeit leichter Elemente in Flüssigkeiten.

Funktionen
  • Anwendungen
    • Analyse elektrischer/elektronischer Materialien, RoHS- und Halogen-Screening
    • Dünnschichtanalyse für Halbleiter, Scheiben, Flüssigkristalle und Solarzellen
  • Funktionales Design
    • Große Probenskammer bei gleichzeitig reduzierter Einbaubreite (ca. 20 % kleiner als Vorgängermodell)
  • PCEDX Navi Software
    • Grafische Benutzeroberfläche mit vereinfachten Abläufen für Einsteiger und erweiterten Optionen für erfahrene Anwender
  • Analytische Fähigkeiten
    • Silicon Drift Detector (SDD) und optimierte Hardware für hohe Empfindlichkeit, schnelle Analysen und verbesserte Energienauflösung
    • Unterstützung der Analyse leichter Elemente, mit erhöhter Empfindlichkeit für Flüssigkeiten durch Helium-Spülung
  • Probenflexibilität
    • Geeignet für kleine bis große Proben, Pulver, Flüssigkeiten und Dünnschichten
    • Optionen: Vakuumeinheit und Helium-Spülungseinheit
  • Quantifizierungsfunktionen
    • Kalibrierkurvenmethode und umfassende Quantifizierungswerkzeuge für Routine- und Spezialanalysen

Videos (Beispiele)
  • EDX-7000/8000 Serie — Demonstration der Gerätefunktionen und typischer Anwendungen
  • Analyse natürliche vs. Imitation von Edelsteinen — Beispiel für Leichtelement-Analyse mit EDX-8000/8100

Spezifikationen
  • Gerätetyp: EDXRF-Tischgerät für Elementanalysen
  • Modell: EDX-8100
  • Detektor: Silicon Drift Detector (SDD)
  • Röntgenquelle: Rh-Röhre; Spannungsbereich typ. 4 kV – 50 kV
  • Kühlung: Luftgekühlt (kein flüssiger Stickstoff erforderlich)
  • Messbereich: leichte Elemente bis Uran (modellabhängig)
  • Optionen: Helium-Spülungseinheit, Vakuumeinheit, RoHS-Screening-Kit, automatischer Probentöter/Probeneinzug
  • Probenhandhabung: große Probenskammer; unterstützt Pulver, Flüssigkeiten, Dünnschichten und Festproben verschiedener Größe
  • Software: PCEDX Navi für einfache Bedienung und erweiterte Analysefunktionen
  • Quantifizierung: Kalibrierkurvenmethode, Fundamentalparameter-Optionen und weitere Quantifizierungsfunktionen
  • Abmessungen (ca.): 46 cm x 59 cm x 36 cm; Gewicht (ca.): 45 kg

Kataloge

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.