Klimakammer
Temperaturfür schnelle Temperaturzyklenfür Elektronikkarten

Klimakammer - Sanwood Technology - Temperatur / für schnelle Temperaturzyklen / für Elektronikkarten
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Eigenschaften

Typ
Klima
Kontrollierter Parameter
Temperatur
Testart
für schnelle Temperaturzyklen
Produktanwendung
für Elektronikkarten, für Halbleiter, für Sensor
Einsatzbereich
für Qualitätskontrolle, Labor
Konfigurierung
bodenstehend, kompakt
Kammermaterial
anodisiertes Aluminium
Optionen und Zubehör
mit Klima- und Temperaturregelung, mit Touchscreen-Steuerung, PLC-gesteuert, mit Schwenkrohr
Weitere Eigenschaften
Ultra-Niedrigtemperatur, Hochtemperatur, automatisch, energiesparend, beschleunigt, Thermoeffekt
Temperatur

Min: -80 °C
(-112 °F)

Max: 225 °C
(437 °F)

Leistung

Min: 220 W

Max: 223 W

Außenlänge

Min: 789 mm
(31,1 in)

Max: 1.930 mm
(76 in)

Außenhöhe

Min: 1.543 mm
(60,75 in)

Max: 2.163 mm
(85,16 in)

Außentiefe

911 mm
(35,87 in)

Beschreibung

SANWOOD-Temperaturbeaufschlagungssystem für die Prüfung von Halbleitern und elektronischen Bauteilen Produktübersicht Das SANWOOD SMS-810-10S-Temperaturbeaufschlagungssystem liefert lokalisierte warme und kalte Luft für die Charakterisierung von Halbleitern, die Bewertung von Bauteilen und die temperaturabhängige Fehleranalyse. Ingenieure können Leistungsänderungen untersuchen, während die Proben weiterhin an elektrische oder optische Messgeräte angeschlossen sind. Lokalisierte thermische Konditionierung Leiten Sie einen temperaturgeregelten Luftstrom auf eine ausgewählte Komponente oder einen bestimmten Bereich der Leiterplatte, um Betriebsreserven zu prüfen, Messwerte zu vergleichen und sporadisch auftretende Fehler zu reproduzieren. Regelung der Lufttemperatur und Rückkopplung vom Prüfling Wählen Sie je nach erforderlicher Temperaturreferenz den Luftmodus oder den DUT-Modus. Externe Thermoelemente vom Typ T und Typ K liefern Rückmeldungen von einer definierten Stelle der Probe. Positionierung und Laborintegration Eine motorisierte vertikale Verstellung und eine pneumatische Betätigung des Thermokopfes unterstützen die Positionierung der Halterung. LAN- und CAN-Schnittstellen ermöglichen die Überwachung über einen Host-Computer. Kühlung ohne externe flüssige Kryogene Für den Betrieb ist keine externe Versorgung mit flüssigem Stickstoff oder flüssigem Kohlendioxid erforderlich. Wichtigste technische Spezifikationen Modell: SMS-810-10S Temperaturbereich: −80 °C bis +225 °C Typische Lufttemperaturänderung beim Aufheizen: ca. 10 Sekunden von −55 °C auf +125 °C Typische Lufttemperaturänderung, Kühlung: ca. 10 Sekunden von +125 °C auf −55 °C System-Luftdurchsatz: 4–18 scfm, entspricht 1,89–8,50 L/s Temperaturregelungsmodi: Luftmodus und DUT-Modus Externe Temperatureingänge: Thermoelemente vom Typ T und Typ K Positionierung des Thermokopfes: Motorisierter vertikaler Hub und pneumatische Betätigung Kommunikationsschnittstellen: LAN und CAN zur Überwachung über den Host-PC Stromversorgung: 220–230 VAC, 50/60 Hz Typische Testanwendungen Zu den Anwendungen gehören die Charakterisierung digitaler und analoger ICs, die Bewertung von HF- und Mixed-Signal-Schaltungen, das Testen optischer Transceiver, das Testen von Leistungshalbleitern, die Sensorbewertung sowie die Fehleranalyse auf Bauteilebene. Relevante internationale Testnormen Beachten Sie bei Qualifizierungsprojekten die festgelegte Prüfmethode, wenn Sie die Geräte, Prüfvorrichtungen und Temperaturüberwachungsmaßnahmen auswählen. JEDEC JESD22-A104 – Temperaturwechsel Bewertung der Zuverlässigkeit von Halbleitern durch wiederholte Einwirkung festgelegter hoher und niedriger Temperaturbedingungen. MIL-STD-883-1, Methode 1010 – Temperaturwechsel Bewertung der Beständigkeit von Mikroschaltungen gegenüber extremen Temperaturen und der Auswirkungen wechselnder Belastungen. IEC 60068-2-1:2025 – Kälte Niedertemperaturprüfung von Bauteilen und Geräten unter festgelegten Betriebs-, Transport- oder Lagerbedingungen. IEC 60068-2-2:2025 – Trockene Hitze Hochtemperaturprüfung von Bauteilen und Geräten, einschließlich unter Spannung stehender und spannungsfreier Prüflinge. IEC 60068-2-14:2023 – Temperaturänderung Bewertung des Verhaltens von Prüflingen bei festgelegten Änderungen der Umgebungstemperatur. Überprüfung der Prüfmethode und -konfiguration Diese Referenzen dienen als Leitfaden für die Anwendungsprüfung; die Eignung muss für die ausgewählten Prüfbedingungen und die Anordnung der Geräte bestätigt werden. Bewerten Sie vor der Qualifizierungsprüfung die Abdeckung der Einwirkbedingungen, die Temperaturtoleranzen der Prüflinge, die Übergangsanforderungen, die Verweilzeiten und die Anzahl der Zyklen. Die Spezifikation von ca. 10 Sekunden beschreibt den Temperaturübergang der zugeführten Luft. Die tatsächliche Stabilisierung der Probe hängt von der thermischen Masse, der betrieblichen Wärmebelastung, dem Luftstrom und den Bedingungen der Halterung ab. Das gemessene Temperaturprofil der Probe unter repräsentativer Belastung ist anhand der vorgeschriebenen Prüfanforderungen zu validieren. Über SANWOOD SANWOOD wurde 1995 gegründet und stellt Umwelt- und Zuverlässigkeitsprüfgeräte für Anwendungen in den Bereichen Halbleiter, Elektronik, Automobilindustrie und Luft- und Raumfahrt her. Die Produktionsfläche beträgt mehr als 30.000 m², und die Produkte und Dienstleistungen des Unternehmens decken mehr als 100 Länder und Regionen ab. Das Produktportfolio umfasst Temperaturbeaufschlagungssysteme, HAST-Kammern, HALT/HASS-Kammern, Thermoschockkammern und weitere Umweltprüfgeräte für die Produktentwicklung und Zuverlässigkeitsbewertung. Technisches Angebot anfordern Teilen Sie SANWOOD die Abmessungen Ihrer Muster, die Zieltemperaturen, die thermische Betriebsbelastung, die Anordnung der Halterungen und die Kommunikationsanforderungen mit. Geben Sie gegebenenfalls die geltende Prüfnorm und die Prüfbedingungen an. Ein Foto des Musters oder eine Zeichnung der Halterung kann dabei helfen, die Positionierung und den Zugang für Messungen zu verdeutlichen. Wenden Sie sich an SANWOOD, um Unterstützung bei der technischen Auswahl und ein anwendungsbezogenes Angebot zu erhalten.

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Messen

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ELECTRONICA 2026
ELECTRONICA 2026

10-13 Nov. 2026 Munich (Deutschland) Halle C2 - Stand 130

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