SEM-Raman bietet Ihnen eine umfassende In-situ-Probencharakterisierung in einem einzigen System. Definieren Sie Komfort, Effizienz und Produktivität neu, indem Sie diese beiden Technologien kombinieren.
Die SCA-Schnittstelle (Structural and Chemical Analyzer) von Renishaw verbindet die inVia™ Raman-Mikroskope mit Rasterelektronenmikroskopen (SEM) und ermöglicht Punktmessungen und Mapping.
Raman + SEM
Das inVia-Mikroskop und die SCA-Schnittstelle bieten eine In-SEM-Analysetechnik, die sowohl die lichtmikroskopische Raman-Spektroskopie ergänzt als auch die Einschränkungen der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS), der traditionellen In-SEM-Analysetechnik, überwindet. Mit dem SEM-Raman-System von Renishaw profitieren Sie von der gleichzeitigen Durchführung morphologischer, elementarer, chemischer, physikalischer und elektronischer Analysen.
Verwenden Sie das SEM, um hochauflösende Bilder Ihrer Probe zu erstellen und Elementanalysen durchzuführen. Nutzen Sie die Leistung von Raman, um chemische Informationen und Bilder zu erhalten. Identifizieren Sie Materialien und Nichtmetalle, selbst wenn sie die gleiche Stöchiometrie haben.
SCA und inVia sind nicht nur mit Raman-, sondern auch mit Photolumineszenz- (PL) und Kathodolumineszenz- (CL) Spektroskopie voll kompatibel.
Röntgenanalyse von Schwemmlandablagerungen
Röntgenanalyse von Anschwemmungen
Ein kombiniertes System für die Analyse an verschiedenen Standorten
Mit einem einzigen kombinierten System sparen Sie wertvolle Zeit. Sie müssen Ihre Proben nicht zwischen zwei Geräten hin- und herbewegen und riskieren, die falsche Probenregion zu analysieren.
Sowohl das inVia-Mikroskop als auch das SEM können gleichzeitig als eigenständige Systeme betrieben werden, ohne dass die Leistung eines der beiden Systeme beeinträchtigt wird. Sie haben ein Raman-System, ein SEM-System und ein kombiniertes Raman-SEM-System.
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